ЗМІСТ

Королюк С.Л., Королюк С.С., Раренко И.М., Тарко О.Л., Галочкин А.В.
Собственные полупроводники группы A³ ₂B⁶ ₃ как перспективные материалы для радиационно стойкой электроники

Курмашев Ш.Д., Викулин И.М., Ленков С.В.
Кремниевые МДП-структуры с оксидами редкоземельных элементов в качестве диэлектрика

Орлов В.Д., Удовицкий В.Г.
Вакуумное напыление тонких пленок органических полупроводников и исследование их структуры

Каркина Е.А., Корецкий В.Н., Ленков С.В., Огарь Д.К.
Токопроводящий клей на основе порошка меди

Дмитриев М.В.
Способы прогнозирования параметров стеклокерамики с межфазным слоем

Кондрат А.Б., Довгошей Н.И., Поляк Я.М., Сидор Ю.Й., Повч Р.М.
Электрофизические характеристики структур Si—X—Ge₃₃As₁₂Se₅₅ (X: Sb, Bi, In, Pb) с различными контактами

Власенко А.И., Власенко З.К., Гнатюк В.А., Смирнов А.Б., Курило И.В., Рудый И.А., Ижнин И.И.
Варизонные слои на основе твердых растворов CdHgTe для двухполосных ИК-фоторезисторов

Горский П.В., Раренко И.М., Ляшенко А.Ф., Тымчук А.И.
Теоретические аспекты оптимизации металлических токосъемных контактов солнечных элементов

Николаенко Ю.Е., Вихор Л.Н.
Моделирование нагрузочных характеристик оптимального каскадного термоэлектрического охладителя

Николаенко Ю.Е., Кравец В.Ю.
Влияние режимных параметров на теплопередающие характеристики миниатюрных тепловых труб

Черняк Н.Г., Мухоед Н.А.
Построение инерциального датчика для измерения линейных ускорений и угловых скоростей летательного аппарата

Черняк Н.Г., Стеценко О.В.
Решение задачи газового демпфирования чувствительных элементов микроэлектронных акселерометров

Лепих Я.И., Лопушенко В.К.
Емкостный датчик давления для АЭС и нефтехимической промышленности

Будянский А.М., Фареник В.И., Яцков А.П.
Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления

Ковтун Г.П., Кравченко А.И., Щербань А.П.
Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра

Вербицкий В.Г., Липовецкий Г.П., Сивобород П.В.
Однокристальная микро-ЭВМ с аналого-цифровым преобразователем

Сибиряков В.В., Трофимов В.Е.
Методическое обеспечение практикума по системе P-CAD 4,5 для начинающих пользователей