<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001, № 6</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70818" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70818</id>
<updated>2026-04-06T20:16:18Z</updated>
<dc:date>2026-04-06T20:16:18Z</dc:date>
<entry>
<title>Методическое обеспечение практикума по системе P-CAD 4,5 для начинающих пользователей</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70899" rel="alternate"/>
<author>
<name>Сибиряков, В.В.</name>
</author>
<author>
<name>Трофимов, В.Е.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70899</id>
<updated>2014-11-16T01:01:59Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Методическое обеспечение практикума по системе P-CAD 4,5 для начинающих пользователей
Сибиряков, В.В.; Трофимов, В.Е.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Однокристальная микро-ЭВМ с аналого-цифровым преобразователем</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70898" rel="alternate"/>
<author>
<name>Вербицкий, В.Г.</name>
</author>
<author>
<name>Липовецкий, Г.П.</name>
</author>
<author>
<name>Сивобород, П.В.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70898</id>
<updated>2014-11-16T01:01:59Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Однокристальная микро-ЭВМ с аналого-цифровым преобразователем
Вербицкий, В.Г.; Липовецкий, Г.П.; Сивобород, П.В.
Представлены функциональные возможности и основные параметры новой однокристальной микро-ЭВМ УМ5704ВЕ56 семейства МК-51 с 8-разрядным аналого-цифровым преобразователем (АЦП). Описан способ преобразования, рассмотрены факторы, влияющие на ошибки аналого-цифрового преобразования. Показаны варианты подключения внешних интерфейсов для оптимального функционирования АЦП. Рассмотрены команды управления АЦП, использующие внутренние регистры микро-ЭВМ, с описанием характеристик дополнительных битов в этих регистрах.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70897" rel="alternate"/>
<author>
<name>Ковтун, Г.П.</name>
</author>
<author>
<name>Кравченко, А.И.</name>
</author>
<author>
<name>Щербань, А.П.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70897</id>
<updated>2014-11-16T01:01:59Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Установка для выращивания малодислокационных монокристаллов GaAs большого диаметра
Ковтун, Г.П.; Кравченко, А.И.; Щербань, А.П.
Изложены особенности разработанной установки для выращивания монокристаллов GaAs диаметром 80—100 мм под слоем флюса в условиях низкого температурного градиента. Монокристаллы GaAs характеризуются низкой плотностью дислокаций (5·10⁴ см⁻²) и равномерностью ее распределения по сечению. Отмечается нестабильность диаметра и появление двойникования у выращиваемых монокристаллов при значительном снижении температурного градиента.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70896" rel="alternate"/>
<author>
<name>Будянский, А.М.</name>
</author>
<author>
<name>Фареник, В.И.</name>
</author>
<author>
<name>Яцков, А.П.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70896</id>
<updated>2014-11-16T01:01:58Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Особенности автоматизации диодных реакторных систем микротравления
Будянский, А.М.; Фареник, В.И.; Яцков, А.П.
Проведено изучение природы скачков интенсивности ВЧ-разряда, возникающих в цепи автоматических согласующих устройств генераторов при эксплуатации ВЧ газоразрядных систем. Показано, что наличие или отсутствие скачков в системе полностью определяется формой зависимости собственной емкости плазмы от приложенного к разряду ВЧ-напряжения. Показаны пути создания алгоритма настройки системы, исключающего возникновение скачков.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
