Показати простий запис статті

dc.contributor.author Yanson, I.K.
dc.contributor.author Fisun, V.V.
dc.contributor.author Bobrov, N.L.
dc.contributor.author Mydosh, J.A.
dc.contributor.author van Ruitenbeek, J.M.
dc.date.accessioned 2021-02-01T17:36:11Z
dc.date.available 2021-02-01T17:36:11Z
dc.date.issued 1998
dc.identifier.citation Size-effect of Kondo scattering in point contacts (revisited) / I.K. Yanson, V.V. Fisun, N.L. Bobrov, J.A. Mydosh, J.M. van Ruitenbeek // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 7. — С. 654-660. — Бібліогр.: 27 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 0132-6414
dc.identifier.other PACS: 72.15.Qm, 72.10.Fk, 73.40.Ty, 75.20.Hr
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175545
dc.description.abstract The size-effect of Kondo-scattering in nanometer-sized metallic point contacts is measured with the simplified, mechanically-controlled break-junction technique for CuMn alloy of different Mn concentrations: 0.017; 0.035; and 0.18 (± 0.017) at.%. The results are compared with our previous publication on nominally 0.1 at.% CuMn alloy [1,2]. The increase of width of the Kondo resonance and enhanced ratio of Kondo-peak intensity to electron-phonon scattering intensity is observed for contacts with sizes smaller than 10 nm. From the comparison of electron-phonon scattering intensity for the pressure-type contacts, which correspond to the clean orifice model, we conclude that the size effect is observed in clean contacts with the shape of a channel (nanowire). uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Физика низких температур
dc.subject Электpонные свойства металлов и сплавов uk_UA
dc.title Size-effect of Kondo scattering in point contacts (revisited) uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис