Температурная зависимость микроволновой проводимости пленки YBaCuO в нормальном состоянии

Abstract

Представлены результаты экспериментального исследования флуктуационной проводимости оптимально допированной эпитаксиальной пленки YBa₂Cu₃O7-δ, полученные методом измерения коэффициента комплексного отражения от исследуемого образца при скользящих углах падения, разработанным и реализованным авторами в миллиметровом диапазоне волн. Показано хорошее соответствие полученных результатов и теоретической модели, построенной в рамках гауссовской теории для частотно-ограниченной флуктуационной 2D микроволновой проводимости, в температурном интервале 93 - 120 К.

Представлено результати експериментального дослідження флуктуаційної провідності оптимально допованої епітаксіальної плівки YBa₂Cu₃O7-δ, що отримано методом вимірювання коефіцієнта відбиття від досліджуваного зразка при ковзних кутах падіння, що розроблено та реалізовано авторами у міліметровому діапазоні хвиль. Показано гарну відповідність отриманих результатів і теоретично ї моделі, побудованої в рамках гауссівської теорії для частотно-обмеженої флуктуаційної 2D мікрохвильової провідності, у температурному інтервалі 93 - 120 К.

The experimental results on fluctuation conductivity of the optimally doped epitaxial YBa₂Cu₃O7-δ film, obtained by means of measuring grazing incidence complex reflectivity are presented. The technique was developed and realized by the authors in the millimeter wavelength range. It is shown that in the 93–120 K temperature interval the experimental results are in good agreement with the model developed within the framework of a modified Gaussian theory for finite-frequency fluctuational 2D microwave conductivity.