Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Groza, A.A.
dc.contributor.author Venger, E.F.
dc.contributor.author Varnina, V.I.
dc.contributor.author Holiney, R.Yu.
dc.contributor.author Litovchenko, P.G.
dc.contributor.author Matveeva, L.A.
dc.contributor.author Litovchenko, A.P.
dc.contributor.author Sugakov, V.I.
dc.contributor.author Shmatko, G.G.
dc.date.accessioned 2017-06-05T17:08:01Z
dc.date.available 2017-06-05T17:08:01Z
dc.date.issued 2001
dc.identifier.citation Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon / A.A. Groza, E.F. Venger, V.I. Varnina, R.Yu. Holiney, P.G. Litovchenko, L.A. Matveeva, A.P. Litovchenko, M.I. Starchik, V.I. Sugakov, G.G. Shmatko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2001. — Т. 4, № 3. — С. 152-155. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS: 61.82.F
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119263
dc.description.abstract Processes of structure defects formation, which accompanied by oxygen precipitation after a neutron irradiation (10¹⁵- 10¹⁹ n/cm²) and high-temperature treatment (800 - 1000°С) in CZ silicon, were investigated by the transmission electron microscopy. Influence of the structure defects on electrooptical properties of silicon was revealed. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис