Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Groza, A.A. |
|
dc.contributor.author |
Venger, E.F. |
|
dc.contributor.author |
Varnina, V.I. |
|
dc.contributor.author |
Holiney, R.Yu. |
|
dc.contributor.author |
Litovchenko, P.G. |
|
dc.contributor.author |
Matveeva, L.A. |
|
dc.contributor.author |
Litovchenko, A.P. |
|
dc.contributor.author |
Sugakov, V.I. |
|
dc.contributor.author |
Shmatko, G.G. |
|
dc.date.accessioned |
2017-06-05T17:08:01Z |
|
dc.date.available |
2017-06-05T17:08:01Z |
|
dc.date.issued |
2001 |
|
dc.identifier.citation |
Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon / A.A. Groza, E.F. Venger, V.I. Varnina, R.Yu. Holiney, P.G. Litovchenko, L.A. Matveeva, A.P. Litovchenko, M.I. Starchik, V.I. Sugakov, G.G. Shmatko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2001. — Т. 4, № 3. — С. 152-155. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1560-8034 |
|
dc.identifier.other |
PACS: 61.82.F |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119263 |
|
dc.description.abstract |
Processes of structure defects formation, which accompanied by oxygen precipitation after a neutron irradiation (10¹⁵- 10¹⁹ n/cm²) and high-temperature treatment (800 - 1000°С) in CZ silicon, were investigated by the transmission electron microscopy. Influence of the structure defects on electrooptical properties of silicon was revealed. |
uk_UA |
dc.language.iso |
en |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|
dc.title |
Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті