Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003, том 6
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003, № 3
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Kladko, V.P. | |
| dc.contributor.author | Datsenko, L.I. | |
| dc.contributor.author | Korchovyi, A.A. | |
| dc.contributor.author | Machulin, V.F. | |
| dc.contributor.author | Lytvyn, P.M. | |
| dc.contributor.author | Shalimov, A.V. | |
| dc.contributor.author | Kuchuk, A.V. | |
| dc.contributor.author | Kogutyuk, P.P. | |
| dc.date.accessioned | 2017-05-28T14:28:06Z | |
| dc.date.available | 2017-05-28T14:28:06Z | |
| dc.date.issued | 2003 | |
| dc.identifier.citation | Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections / V.P. Kladko, L.I. Datsenko, A.A. Korchovyi, V.F. Machulin, P.M. Lytvyn, A.V. Shalimov, A.V. Kuchuk, P.P. Kogutyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 3. — С. 392-396. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 1560-8034 | |
| dc.identifier.other | PACS: 68.65.Cd | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118048 | |
| dc.description.abstract | We studied possibilities of a nondestructive X-ray technique for testing short-period strained GaAs-AlAs superlattices. An analysis of the quasi-forbidden 200 reflections may be used for determination of superlattice layer structure parameters and sublayer thickness. The effect of irregularity of superlattice transition region on X-ray diffraction reflection curves and elastic strains in layers was studied. | uk_UA |
| dc.language.iso | en | uk_UA |
| dc.publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics | |
| dc.title | Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
