ЗМIСТ

Титульна сторінка та зміст

Міжнародний інноваційний форум країн СНД – 2011

Лисенко О.Г.
Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах

Фирстов С.А., Даниленко Н.И.
Механическая подготовка объектов для электронно-микроскопических исследований

Сторижко В.Е., Мирошниченко В.И., Пономарев А.Г.
Изготовление микро- и наноразмерных структур с применением протонной пучковой литографии: современное состояние и перспективы развития

Петров Ю.В.
Сканирующий ионный гелиевый микроскоп

Pugatch V.M.
Position Sensitive Micro-Strip and Micro-Pixel Detectors

Чапон П., Костенко О.К.
Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™

Держипольский А.Г., Меленевский Д.А.
Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого

Brescia P., Banks P., Voloshin А.
Multi-Volume Analysis of Nucleic Acids Using the EPOCH™ Spectrophotometer System

Сухомлинов А.Б.
Новое оборудование японской корпорации SHIMADZU для исследовательских лабораторий

Верцанова Е.В.
Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий

Есауленко А.Н., Выпирайленко А.В., Гринченко М.Н.
Новые приборы компании AGILENT TECHNOLOGIES для научных исследований

Артемьева И.Н., Романов С.Н.
Оборудование компании INTERTECH CORPORATION для лабораторного анализа и научных исследований

Компания LECO. 75 лет на мировом рынке аналитического оборудования

Системы ELECTROPULS – электродинамические испытательные машины будущего

Офіційна відповідь Держінформнауки на звернення Громадської ради з питань проблем інноваційної сфери
S4B: Science for Business Initiative (Ініціатива «Наука для бізнесу»)
СНГ: партнерство в инновациях
Наші автори
Правила для авторів
Instructions for Authors