Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Модель межзеренной границы в р-n-структурах на основе поликристаллических полупроводников

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Олимов, Л.О.
dc.date.accessioned 2016-04-18T17:48:28Z
dc.date.available 2016-04-18T17:48:28Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.citation Модель межзеренной границы в р-n-структурах на основе поликристаллических полупроводников / Л.О. Олимов // Физическая инженерия поверхности. — 2010. — Т. 8, № 2. — С. 173–179. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 1999-8074
dc.identifier.other PACS: 61.82.Fk, 61.72.Mm, 79.40.+z, 61.82.Rx, 73.22.-f, 73.61.-r, 73.90.+f, 73.43.Jn, 73.50.Lw, 72.40.+w, 73.50.Pz
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98868
dc.description.abstract В работе экспериментально исследованы влияния межзеренных границ (МЗГ) на дрейф носителей заряда в объеме поликристаллического кремния (ПК) и р-n-структур на их основе. Предложена модель р-n-перехода в области МЗГ ПК р-n-структур. Предложенные метод и модель р-n-перехода в МЗГ. Полученные результаты представляют существенный интерес при исследованиях поликристаллических полупроводниковых р-n-структур. uk_UA
dc.description.abstract У роботі експериментально досліджені впливи міжзернових границь (МЗГ) на дрейф носіїв заряду в об’ємі полікристалічного кремнію (ПК) і р-n-структур на їхній основі. Запропоновано модель р-n-переходу в області МЗГ ПК р-n-структур. Запропоновані метод і модель р-n-переходу в МЗГ. Отримані результати становлять істотний інтерес при дослідженнях полікристалічних напівпровідникових р-n-структур. uk_UA
dc.description.abstract We experimentally investigated the influence of inter-grain boundaries on the drift of charge carriers in the volume of polycrystalline silicon (PC) and p-n-structures based on them. A model of p-njunction in IGBs PC p-n-structures. The proposed method and model p-n-junction in the intergrain boundaries, and the results represent a significant interest in studies of polycrystalline semiconductor p-n-structures. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Физическая инженерия поверхности
dc.title Модель межзеренной границы в р-n-структурах на основе поликристаллических полупроводников uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 666.3.017


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис