| dc.contributor.author | Білик, Т.Ю. | |
| dc.contributor.author | Шмирєва, О.М. | |
| dc.contributor.author | Мельниченко, М.М. | |
| dc.date.accessioned | 2015-02-10T12:41:06Z | |
| dc.date.available | 2015-02-10T12:41:06Z | |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.identifier.citation | Технологічні методи керування властивостями наноструктурованого кремнію / Т.Ю. Білик, О.М. Шмирєва, М.М. Мельниченко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 395-402. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. | uk_UA | 
| dc.identifier.issn | 1816-5230 | |
| dc.identifier.other | PACSnumbers:78.55.Mb,78.67.Rb,81.07.Bc,81.40.Tv,81.65.Cf,85.60.Dw,85.60.Gz | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76425 | |
| dc.description.abstract | При формуванні наноструктурованого кремнію на підложжях монокристалічного кремнію відбувається зміна не тільки структурних властивостей, що призводить до зміни ширини забороненої зони і прояву квантоворозмірних ефектів, але й утворення на поверхні нових сполук кремнію з підвищеним вмістом водню й аморфного кремнію. Така складна структура обумовлює прояв нових електрофізичних, фотоелектричних, теплофізичних та фотолюмінесцентних властивостей, що дозволяє створювати нові типи напівпровідникових приладів, зокрема, фотоприймачі короткохвильової частини спектру. Метою даної роботи є подальше дослідження технологічних метод керування функціональними властивостями наноструктурованого кремнію із застосуванням нових складів щавників. | uk_UA | 
| dc.description.abstract | Formation of nanoporous silicon on monocrystalline silicon wafers changes structural properties that results in forbidden-bandwidth change and quantumdimension effects appearance as well as appearance of new silicon compounds with higher hydrogen and amorphous-silicon contents on the silicon surface. Such a complex structure with new electrophysical, photoelectrical, thermophysical, and photoluminescent properties makes possible new types of semiconductor devices, in particular, light detectors of short-wave spectral range. Goal of this work is to study technological methods for governing by functional properties of nanoporous silicon using new compositions of etching agents. | uk_UA | 
| dc.description.abstract | При формировании наноструктурированного кремния на подложках монокристаллического кремния происходит изменение не только структурных свойств, что приводит к изменению ширины запрещенной зоны и проявлению квантово-размерных эффектов, но и к возникновению на поверхности новых соединений кремния с повышенным содержанием водорода и аморфного кремния. Такая сложная структура приводит к проявлению новых электрофизических, фотоэлектрических, теплофизических и фотолюминесцентных свойств, что позволяет создавать новые типы полупровод-никовых приборов, в частности, фотоприемники коротковолновой части спектра. Целью данной работы является дальнейшее изучение технологических методов управления функциональными свойствами наноструктурированного кремния с применением новых составов травителей. | uk_UA | 
| dc.language.iso | uk | uk_UA | 
| dc.publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України | uk_UA | 
| dc.relation.ispartof | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології | |
| dc.title | Технологічні методи керування властивостями наноструктурованого кремнію | uk_UA | 
| dc.title.alternative | Technological Methods for Control of Nanostructured Silicon Properties | |
| dc.type | Article | uk_UA | 
| dc.status | published earlier | uk_UA |