Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Зайков, В.П. |
|
dc.contributor.author |
Моисеев, В.Ф. |
|
dc.date.accessioned |
2014-11-11T15:04:59Z |
|
dc.date.available |
2014-11-11T15:04:59Z |
|
dc.date.issued |
2003 |
|
dc.identifier.citation |
Влияние циклического режима работы охлаждающего термоэлектрического устройства на его надежность / В.П. Зайков, В.Ф. Моисеев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2003. — № 6. — С. 35-38. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
2225-5818 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70716 |
|
dc.description.abstract |
Рассмотрен циклический режим работы термоэлектрического охлаждающего устройства (ТЭУ) и определена взаимосвязь показателей надежности ТЭУ и основных значимых параметров. Полученные соотношения позволяют оценить влияние достаточно широкого круга физических параметров на показатели надежности ТЭУ, работающего в циклическом режиме, по сравнению с непрерывным. |
uk_UA |
dc.language.iso |
ru |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|
dc.subject |
Энергетическая микроэлектроника |
uk_UA |
dc.title |
Влияние циклического режима работы охлаждающего термоэлектрического устройства на его надежность |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Вилив циклічного режиму роботи охолоджуючого термоелектричного пристрою на його надійність |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
dc.identifier.udc |
621.362 |
|
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті