Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий

dc.date.accessioned	2014-11-02T17:26:58Z
dc.date.available	2014-11-02T17:26:58Z
dc.date.issued	2007
dc.identifier.citation	Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий // Физика и техника высоких давлений. — 2007. — Т. 17, № 2. — С. 137-138. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	0868-5924
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70333
dc.description.abstract	Для решения задач материаловедения компания «Карл Цейсс» предлагает прямые и инвертированные микроскопы отраженного света, поляризационные и стереомикроскопы последнего поколения.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Физика и техника высоких давлений
dc.title	Микроскопия «Карл Цейсс» для исследования материалов и диагностики изделий	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA