Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Свиридов, В.В. |
|
dc.contributor.author |
Радкевич, Н.А. |
|
dc.contributor.author |
Жихарев, И.В. |
|
dc.date.accessioned |
2014-10-31T17:26:17Z |
|
dc.date.available |
2014-10-31T17:26:17Z |
|
dc.date.issued |
2006 |
|
dc.identifier.citation |
Сканирующий эллипсометр на базе гониометра с автоколлимационной трубой / В.В. Свиридов, Н.А. Радкевич, И.В. Жихарев // Физика и техника высоких давлений. — 2006. — Т. 16, № 2. — С. 71-77. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
0868-5924 |
|
dc.identifier.other |
PACS: 78.68.+m |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70229 |
|
dc.description.abstract |
Скомпонован сканирующий эллипсометр на базе гониометра с автоколлимационной трубой. Эллипсометр апробирован при измерениях оптических параметров стандартного образца из кварца КУ-1. Получено удовлетворительное соответствие результатов эксперимента по брюстеровскому отражению с результатами эллипсометрических измерений и с установленными стандартами по показателям преломления и поглощения для объемного образца. Установлено, что при прочих равных условиях примененное аппаратное решение дает возможность осуществлять измерения оптических параметров поверхности образца с точностью до двух-трех единиц четвертого знака. Показана возможность проведения исследований приповерхностных слоев образцов со сложными поверхностями. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
The scanning ellipsometer is composed on the basis of a direction gauge with an autocollimation tube. The ellipsometer has been tested by measuring optical parameters of a standard sample from quartz КУ-1. A satisfactory correspondence of the outcomes of the experiment on Bruster reflection to the results of ellipsometric measurements and to established standards on reflection index and index of absorption for a volumetric sample has been obtained. It has been proved that in other equal conditions the applied hardware solution enables to conduct measurements of optical parameters of a sample surface with the precision of 2−3 units of the fourth character. The possibility of research of nearsurface layers of complex samples is demonstrated. |
uk_UA |
dc.language.iso |
ru |
uk_UA |
dc.publisher |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Физика и техника высоких давлений |
|
dc.title |
Сканирующий эллипсометр на базе гониометра с автоколлимационной трубой |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Скануючий еліпсометр на базі гоніометра з автоколімаційною трубою |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Scanning ellipsometer on basis of a direction gauge with an autocollimation tube |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті