Повышение качества  и чувствительности анализа  низкоконтрастных изображений методом  виртуальной оптической эллипсометрии

dc.contributor.author	Ахметшина, Л.Г.
dc.date.accessioned	2010-03-22T09:39:50Z
dc.date.available	2010-03-22T09:39:50Z
dc.date.issued	2008
dc.identifier.citation	Повышение качества и чувствительности анализа низкоконтрастных изображений методом виртуальной оптической эллипсометрии / Л.Г. Ахметшина // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 233-243. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	1561-5359
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6949
dc.description.abstract	Рассмотрены информационные возможности нового метода повышения качества и чувствительности сегментации низкоконтрастных изображений. Суть метода основана на переходе от амплитудной (яркостной) модуляции к фазовой (угловой) модуляции в комплексной области, что открывает возможность обобщения идеи оптической эллипсометрии на область цифровых методов обработки изображений. Представлены результаты численного моделирования и реальной проверки работоспособности метода.	uk_UA
dc.description.abstract	Розглянуто інформаційні можливості нового методу підвищення якості і чутливості сегментації низькоконтрастних зображень. Суть методу полягає на переході від амплітудної (яскравої) модуляції до фазової (кутової) модуляції в комплексної області, що відкриває можливість узагальнення ідеї оптичної елепсометрії на галузь цифрових методів обробки зображень. Представлені результати реальної перевірки працездатності методу.	uk_UA
dc.description.abstract	Information possibilities of new method of increasing quality and segmentation sensitivity of low contrast images are considered. The main idea of the method is based on the transition from magnitude (brightness) modulation, to phase (angular) modulation in a complex space. It provides a possibility for generalization idea of optical ellipsometry to domain of digital methods of image processing. Results of real testing of the method possibilities are presented.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України	uk_UA
dc.subject	Распознавание образов. Системы цифровой обработки сигналов и изображений	uk_UA
dc.title	Повышение качества и чувствительности анализа низкоконтрастных изображений методом виртуальной оптической эллипсометрии	uk_UA
dc.title.alternative	Підвищення якості та чутливості аналізу низькоконтрастних зображень методом віртуальної оптичної елепсометрії	uk_UA
dc.title.alternative	Increasing Quality and Sensitivity Analysis of Low Contrast Images Based on Virtual Optical Ellipsometry Method	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	004.93