Рентгеноструктурными, резистивными, магнитными (χ, ЯМР ⁵⁵Mn) и магниторезистивными (MR) исследованиями керамики La0.6Sr0.2Mn1.2–xFexO3±δ (x = 0–0.20), спеченной при tann = 1350°C, установлены закономерности влияния величины х на структуру, фазовые переходы и MR-свойства.
Рентгеноструктурними, резистивними, магнітними (χ, ЯМР ⁵⁵Mn) та магніторезистивними дослідженнями кераміки La0.6Sr0.2Mn1.2–xFexO3±δ (x = 0–0.20), спеченої при tann = 1350°С, встановлено закономірності впливу х на структуру, фазові переходи та магніторезистивні властивості.
From the X-ray diffraction, resistive, magnetic (χ, ⁵⁵Mn NMR) and magnetoresistive (MR) researches of the La0.6Sr0.2Mn1.2–xFexO3±δ (x = 0–0.20) ceramics sintered at tann =1350°С the regularities have been revealed for x effect on the structure, phase transitions and magnetoresistive properties.