Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства
→
Наноструктурное материаловедение
→
Наноструктурное материаловедение, 2009
→
Наноструктурное материаловедение, 2009, № 1
→
Переглянути статтю

dc.contributor.author	Димарчук, В.О.
dc.contributor.author	Огенко, В.М.
dc.contributor.author	Набока, О.В.
dc.contributor.author	Дубровіна, Л.В.
dc.contributor.author	Карпець, М.В.
dc.contributor.author	Зауличний, Я.В.
dc.contributor.author	Хижун, О.Ю.
dc.contributor.author	Волков, С.В.
dc.date.accessioned	2014-05-23T16:05:48Z
dc.date.available	2014-05-23T16:05:48Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂ / В.О. Димарчук, В.М. Огенко, О.В. Набока, Л.В. Дубровіна, М.В. Карпець, Я.В. Зауличний, О.Ю. Хижун, С.В. Волков // Наноструктурное материаловедение. — 2009. — № 1. — С. 10-18. — Бібліогр.: 21 назв. — укр.	uk_UA
dc.identifier.issn	1996-9988
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/62617
dc.description.abstract	Із застосуванням методів ентгенівської емісійної (ЕС) та фотоелектонної (ФС) спектоскопії досліджено електонну стуктуу вуглецевих композитів подуктів кабонізації толуїлендіізоціанату (ТДІ) в матицях високодиспесних оксидів SiO₂ й Al₂O₃.	uk_UA
dc.description.abstract	С применением методов рентгеновской эмиссионной (РЭС) и фотоэлектронной (РФС) спектроскопии исследована электронная структура углеродных композитов — продуктов карбонизации толуилендиизоцианата (ТДИ) в матрицах высокодисперсных оксидов SiO₂ и Al₂O₃.	uk_UA
dc.description.abstract	The methods of X-ray emission spectroscopy (XES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) have been used to study the electronic structure of carbon composites, products of tolylene-diisocyanate (TDI) carbonization in high-dispersion SiO₂ and Al₂O₃.matrices.	uk_UA
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Наноструктурное материаловедение
dc.subject	Функциональные материалы на основе наноразмерного кремнезема	uk_UA
dc.title	Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	548.4; 548.0:539.3.8