Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев

dc.contributor.author	Сорокин, В.М.
dc.contributor.author	Зелинский, Р.Я.
dc.contributor.author	Рыбалочка, А.В.
dc.contributor.author	Олийник, А.С.
dc.date.accessioned	2013-12-30T23:14:42Z
dc.date.available	2013-12-30T23:14:42Z
dc.date.issued	2008
dc.identifier.citation	Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52393
dc.description.abstract	Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Технологические процессы и оборудование	uk_UA
dc.title	Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев	uk_UA
dc.title.alternative	Вимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеїв	uk_UA
dc.title.alternative	Display measuring system CM-100 for LCD characterization	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA