СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов

dc.contributor.author	Сидоренко, В.П.
dc.contributor.author	Вербицкий, В.Г.
dc.contributor.author	Прокофьев, Ю.В.
dc.contributor.author	Кизяк, А.Ю.
dc.contributor.author	Николаенко, Ю.Е.
dc.date.accessioned	2013-12-26T00:19:31Z
dc.date.available	2013-12-26T00:19:31Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов / В.П. Сидоренко, В.Г. Вербицкий, Ю.В. Прокофьев, А.Ю. Кизяк, Ю.Е. Николаенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 2. — С. 25-29. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52041
dc.description.abstract	Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора.	uk_UA
dc.description.abstract	Розроблено НВІС, яка забезпечує одночасний аналіз всіх елементів, що увіходять до складу речовини, з високою чутливістю та точністю. НВІС має в своєму складі 384 детектори з кроком 25 мкм. Застосування мікросхеми дозволяє суттєво знизити вагу, розміри, споживану потужність детектора, зменшити час аналізу та витрати матеріалу, що досліджується.	uk_UA
dc.description.abstract	VLSI which provides the simultaneous analysis of all composition of substance with a high sensitivity and precision has been developed. VLSI contains 384 detectors with a spatial resolution 25 microns. Application of the microcircuit allows essential lowering of the weight, size and power consumption of the detector, reducing the period of analysis and the expenditure of the material which is investigated.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Функциональная микро- и наноэлектроника	uk_UA
dc.title	СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов	uk_UA
dc.title.alternative	НВІС для мікроелектронного координатно-чутливого детектора приладів для елементного аналізу матеріалів	uk_UA
dc.title.alternative	VLSI for microelectronic coordinate-sensitive detector of the devices for element analysis of substance	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA