Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования

dc.contributor.author	Щербакова, Г.Ю.
dc.contributor.author	Дилевский, А.А.
dc.contributor.author	Крылов, В.Н.
dc.contributor.author	Логвинов, О.В.
dc.contributor.author	Плачинда, О.Е.
dc.date.accessioned	2013-12-14T00:54:19Z
dc.date.available	2013-12-14T00:54:19Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования / Г.Ю. Щербакова, А.А. Дилевский, В.Н. Крылов, О.В. Логвинов, О.Е. Плачинда // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 23-26. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51862
dc.description.abstract	Предложен метод, основанный на применении субградиентного итеративного метода оптимизации в пространстве вейвлет-преобразования, который удовлетворяет требованиям задачи автоматизированного оптического контроля фотошаблонов по погрешности и помехоустойчивости.	uk_UA
dc.description.abstract	Запропоновано інформаційну технологію аналізу гістограм та метод завадостійкої бінаризації зображень фотошаблонів (ФШ) ІС та друкованих плат (ДП) на її основі. Цей метод, заснований на застосуванні субградієнтного ітеративного завадостійкого методу оптимізації, задовольняє вимогам задачі автоматизованого оптичного контролю ФШ і ПП за похибкою та завадостійкістю. Помилка бінаризації не перевищує 1 пікселя призначенні відношення сигнал/ шум більш ніж 7.	uk_UA
dc.description.abstract	An information technology for histogram analysis and a method for noise immunity binary processing of integrated and printed circuits board photo-masks image based on this technology was carried out. This method based on the sub-gradient iterative noise stability optimization method satisfies the demands of the automated optical control of photo-masks and printed circuits in the error and noise immunity. The maximum binary processing error does not exceed 1 pixel if the signal-to-noise ratio is more than 7.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Технологические процессы и оборудование	uk_UA
dc.title	Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования	uk_UA
dc.title.alternative	Підвищення завадостійкості бінаризації зображень фотошаблонів в просторі вейвлет-перетворення	uk_UA
dc.title.alternative	Increase of noise immunity of photomask images binarization in the space of the wavelet transform	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	621.382