Спирин, В.Г.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2012)
Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, который основан на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей. Применение данного метода позволяет увеличить выход ...