Поляриметрия подложек компакт-дисков

Abstract

Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Проведенные исследования показали, что анизотропия в подложках, выполненных из монокристаллического сапфира существенно меньше.

The results of experimental investigations for anisotropy of optical disk information storage substrates by total Muller polarimetry method are given. It is shown that values of birefringence in CD substrates manufactured from polycarbonate depend strongly on manufacturing conditions. The conducted investigations have shown that anisotropy in substrates made from monocrystal sapphire is substantially lower.