Исходя из модельного микроскопического лагранжиана многослойной системы ферми-частиц с притяжением получены уравнения для определения сверхпроводящих щелей, критической температуры Тс и химического потенциала как функций концентрации носителей и числа слоев мультислойного металла. Показано, что по мере заполнения зон свободных носителей на соответствующих зависимостях возможно появление участков с достаточно резким возрастанием величины щелей и Тс по мере увеличения плотности носителей в системе. При этом в системе сосуществуют куперовские и локальные пары носителей, что является причиной немонотонного роста Тс многослойного проводника; последнее наблюдается, например, в бислойном соединении YВа₂Сu₃O₆₊δ при изменении δ.
Виходячи із модельного мікроскопічного лагранжіана багатошарової системи фермі-частинок з притяганням одержано рівняння для визначення надпровідних щілин, критичної температури Тс і хімічного потенціалу як функцій концентрації носіїв і числа шарів мультишарового металу. Показано, що по мірі заповнення зон вільних носіїв на відповідних залежностях можлива поява ділянок с достатньо різким зростанням величини щілин І Тс по мірі зростання густини носіїв в системі. При цьому в системі співіснують куперовські і локальні пари носіїв, що є причиною немонотонного зростання Тс багатошарового провідника; останнє спостерігається, наприклад, в бішаруватій сполуці YВа₂Сu₃O₆₊δ при зміні δ.
Basing on the model microscopic Lagrangian of a multilayered system of fermi-particles with attraction, the equations for superconducting gaps, critical temperature Tc and chemical potential have been obtained for arbitrary carrier density and number of layers in the multilayeres metal. Cooper pairs coexist with local ones, which leads to a non-uniform growth of Tc of the multilayered conductor studied, for example, in the bilaye-red compaund YВа₂Сu₃O₆₊δ with changing δ.