Оптимальное определение рельефа поверхности по совокупности фотометрических и альтиметрических данных

Abstract

Предмет и цель работы. Статья посвящена развитию фотометрического метода определения рельефа участков поверхности планет по изображениям в оптическом или радиодиапазоне с использованием абсолютных измерений высот путем прямой альтиметрии с борта космического аппарата. Фотометрический метод позволяет получить рельеф с точностью и разрешением, присущими исходным изображениям. Альтиметрия позволяет прямо определить высоту поверхности, но для покрытия всего исследуемого района требуется слишком много пролетов аппарата. В статье рассматривается альтиметр с широкой диаграммой направленности.

Предмет і мета роботи. Статтю присвячено розвитку фотометричного методу визначення рельєфу ділянок поверхні планет за зображеннями в оптичному або радіодіапазоні із застосуванням абсолютних вимірювань висот шляхом прямої альтиметрії з борту космічного апарата. Фотометричний метод дозволяє отримати рельєф з точністю та розрізненням, властивими вхідним зображенням. Альтиметрія дозволяє прямо визначити висоту поверхні, але для покриття всього досліджуваного району потрібно занадто багато прольотів апарата. У статті розглядається альтиметр із широкою діаграмою направленості.

Subject and purpose. The paper discusses the extension of the photometric method for the surface relief retrieval from images in the optical and radar wavelengths ranges through the involving of the direct heights measurements by an altimeter onboard the spacecraft. The photometric method allows retrieval the relief which has accuracy and the spatial resolution inherent in initial images. Altimetry provides direct measurements of the surface heights, but to cover the entire study area it requires too many spacecraft passes. The paper considers an altimeter having a wide radiation pattern.