Застосування цифрового аналогу підвищення роздільчої здатности рентґенодифракційного обладнання для дослідження дефектного стану кристалічних матеріялів

Abstract

Представлено методику аналізи форми рентґенівських ліній із застосуванням методи реґуляризації за Тихоновим до відновлення фізичного профілю (радіяльного розподілу інтенсивности відбивання, розширення якого спричинено виключно дефектами кристалічної структури). Запропоновано процедуру відокремлення ефектів дифракції Рентґенових променів на кристалічній ґратниці з мікродеформаціями та на областях когерентного розсіяння, яка ґрунтується на відновленні форми повного фізичного профілю, не потребує апріорних припущень щодо закону розподілу мікродеформацій і враховує тип функції розширення на областях когерентного розсіяння.

Представлена методика анализа формы рентгеновских линий с применением метода регуляризации Тихонова к восстановлению физического профиля (радиального распределения интенсивности отражения, уширение которого вызвано исключительно дефектами кристаллической структуры). Предложена процедура разделения эффектов дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решётке с микродеформациями и на областях когерентного рассеяния, которая основана на восстановлении формы полного физического профиля, не нуждается в априорных предположениях относительно закона распределения микродеформаций и учитывает тип функции уширения на областях когерентного рассеяния.

The technique of analysis of the x-ray patterns’ shape using Tikhonov’s regularization method to reconstruct a physical profile (i.e., radial distribution of reflection intensity, the broadening of which is caused by crystal defects only) is described. A procedure for the separation of x-ray diffraction effects on the crystal lattice with microstrains and on coherent scattering regions is proposed. It is based on the recovery of total physical profile shape, does not require a priori assumptions about a law of microstrain distribution, and allows taking into account for a broadening-function type within the areas of coherent scattering.