Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory

Abstract

This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30—60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests.

В данной работе представлены одиночные динамические неисправности цифровой памяти и методы их обнаружения. Детально рассмотрены такие динамические неисправности, как динамическое разрушающее чтение (dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамическое мнимое разрушающее чтение (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) и динамическое некорректное чтение (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF).

У даній роботі представлені одиночні динамічні несправності цифрової пам’яті і методи їхнього виявлення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнуюче читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF) .