Сидоренко, С.І.; Волошко, С.М.; Міщук, О.О.; Тинькова, А.А.
(Металлофизика и новейшие технологии, 2012)
За даними мас-спектрометрії вторинних йонів, електронної Оже-спектроскопії, Рентґенової дифракції, оптичної та атомово-силової мікроскопії досліджено інтенсивність розвитку дифузійних процесів і зміни морфології поверхні ...