Амплитудно-фазовая спектpоскопия pезонансного отpажения света кpисталлами с pезонатоpами Фабpи-Пеpо на повеpхности

Abstract

Исследованы условия формирования минимумов амплитудных спектров отражения электромагнитных волн прозрачными интерферометрами Фабри-Перо, закрепленными на поверхности кристаллов с резонансной дисперсией диэлектрической проницаемости ẽ(w). Показано, что независимо от характера дисперсии ẽ(w) минимум контура отражения формируется на частоте wₘ фазовой компенсации, для которой общая фаза отраженной волны кратна p. Получены аналитические выражения, связывающие частоту минимума контура отражения с параметрами поверхностного резонатора и резонансного возбуждения в подложке объемных экситонов, фононов и плазмонов.

Досліджено умови формування мінімумів амплітудних спектрів відбиття електромагнітних хвиль прозорими інтерферометрами Фабрі —Перо, закріпленими на поверхні кристалів з резонансною дисперсією діелектричної проникності ẽ(w). Показано, що незалежно від характеру дисперсії ẽ(w) мінімум контура відбиття формується на частоті wₘ фазової компенсації, для котрої загальна фаза відбитої хвилі кратна р. Отримано аналітичні вирази, що зв’язують частоту мінімуму контура відбиття з параметрами поверхневого резонатора та резонансного збудження в підкладці об’ємних екситонів, фононів та плазмонів.

Study is made of conditions for the formation of amplitude spectrum minima of electromagnetic wave reflection by transparent Fabry-Perot interferometers fixed on the crystal surfaces with a resonance dispersion of dielectric constant ẽ(w). Whatever the ẽ(w) behavior, the reflection contour minimum is shown to be formed at the phase compensation frequency wₘ for which the general reflecting phase is a multiple of p. Analytical expressions are derived which relate the reflection minimum frequency with the parameters of the surface resonator and the resonance excitation of bulk excitons, phonons and plasmons in the substrate.