Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Impact of microwave pulses of ultrashort duration on a personal computer

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Gadetski, N.P.
dc.contributor.author Karelin, S.Yu.
dc.contributor.author Magda, I.I.
dc.contributor.author Shapoval, I.M.
dc.contributor.author Soshenko, V.A.
dc.date.accessioned 2018-06-16T07:27:37Z
dc.date.available 2018-06-16T07:27:37Z
dc.date.issued 2017
dc.identifier.citation Impact of microwave pulses of ultrashort duration on a personal computer / N.P. Gadetski, S.Yu. Karelin, I.I. Magda, I.M. Shapoval, V.A. Soshenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 6. — С. 52-57. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1562-6016
dc.identifier.other PACS: 84.70.+p, 81.70.Ex
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136215
dc.description.abstract Procedure of the tests for electromagnetic compatibility and strength (EMSS) of a personal computer (PC) to microwave ultrashort duration pulse (USP) and analysis of the results are described. 3D simulation of the MW USP interaction with the test objects considering the configuration of the test area and screening effect of metal components estimates the level of electromagnetic field inside the PC case. Numerically and experimentally is shown that the MW field penetrating into the metal PC case through technological holes can induce the USP potentials in the PC circuitry sufficient to create functional upsets and degradations. uk_UA
dc.description.abstract Описуються підготовка та аналіз результатів тестів на електромагнітну сумісність та стійкість персонального комп’ютера до дії імпульсних НВЧ-електромагнітних полів надкороткої тривалості. Застосовано чисельне моделювання опромінення тестованих об’єктів з урахуванням конфігурації тестового простору, що дозволяє визначити рівень електромагнітних полів усередині корпусу ПК. За допомогою розрахунків та експериментально показано, що імпульсні НВЧ-поля досить легко проникають у металеві корпуси ПК через технологічні отвори. При цьому, поблизу чутливих ланцюгів ПК вони можуть збуджувати потенціали надкороткої тривалості з амплітудами, що достатні для створення функціональних збоїв та деградаційних ефектів. uk_UA
dc.description.abstract Описываются подготовка и анализ результатов тестов на электромагнитную совместимость и стойкость персонального компьютера к воздействию импульсных СВЧ-электромагнитных полей сверхкороткой длительности. Применено численное моделирование облучения тестируемых объектов с учетом конфигурации тестового пространства, позволяющее определить уровень воздействующих электромагнитных полей внутри корпуса ПК. С помощью расчетов и экспериментально показано, что импульсные СВЧ-поля достаточно легко проникают в металлические корпуса ПК через технологические отверстия. При этом, в областях чувствительных цепей ПК они могут возбуждать уровни воздействующих потенциалов сверхкороткой длительности, достаточные для создания функциональных сбоев и деградационных эффектов. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Вопросы атомной науки и техники
dc.subject Новые и нестандартные ускорительные технологии uk_UA
dc.title Impact of microwave pulses of ultrashort duration on a personal computer uk_UA
dc.title.alternative Вплив НВЧ-імпульсів надкороткої тривалості на персональний комп’ютер uk_UA
dc.title.alternative Действие СВЧ-импульсов сверхкороткой длительности на персональный компьютер uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис