Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Mikhailov, I.F. |
|
dc.contributor.author |
Baturin, A.A. |
|
dc.contributor.author |
Fomina, L.P. |
|
dc.date.accessioned |
2018-06-12T18:36:18Z |
|
dc.date.available |
2018-06-12T18:36:18Z |
|
dc.date.issued |
2010 |
|
dc.identifier.citation |
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1027-5495 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134203 |
|
dc.language.iso |
en |
uk_UA |
dc.publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Functional Materials |
|
dc.subject |
Technology |
uk_UA |
dc.title |
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Рентгенофлуоресцентне визначення "слідів" домішок із застосуванням вторинного випромінювача та твердотільного детектора |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті