Обнаружение стимуляции сверхпроводимости внешним электромагнитным полем и высокочастотных линий проскальзывания фазы в широких оловянных пленках

dc.contributor.author	Агафонов, А.Б.
dc.contributor.author	Золочевский, И.В.
dc.contributor.author	Христенко, Е.В.
dc.contributor.author	Дмитриев, В.М.
dc.date.accessioned	2018-01-14T08:21:19Z
dc.date.available	2018-01-14T08:21:19Z
dc.date.issued	2001
dc.identifier.citation	Обнаружение стимуляции сверхпроводимости внешним электромагнитным полем и высокочастотных линий проскальзывания фазы в широких оловянных пленках / А.Б. Агафонов, И.В. Золочевский, Е.В. Христенко, В.М. Дмитриев // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 8. — С. 928-931. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	0132-6414
dc.identifier.other	PACS: 74.40.+k
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128808
dc.description.abstract	Обнаружены стимуляция сверхпроводимости внешним электромагнитным полем и высокочастотные линии проскальзывания фазы в широких оловянных пленках. Исследованы температурные, частотные и мощностные зависимости критического тока, демонстрирующие обнаруженные явления. Показана общность этого класса неравновесных явлений для узких и широких пленок.	uk_UA
dc.description.abstract	The enhancement of superconductivity by an external electromagnetic field and rf phase-slip lines are observed in wide tin films. The temperature, frequency, and power dependences of the critical current are investigated and demonstrate the phenomena observed. It is shown that this class of nonequilibrium effects is common to both narrow and wide films.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Физика низких температур
dc.subject	Письма pедактоpу	uk_UA
dc.title	Обнаружение стимуляции сверхпроводимости внешним электромагнитным полем и высокочастотных линий проскальзывания фазы в широких оловянных пленках	uk_UA
dc.title.alternative	Observation of enhancement of superconductivity by an external electromagnetic field and of rf phase-slip lines in wide tin films	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA