Degradation processes in LED modules

Sorokin, V.M. ; Kudryk, Ya.Ya. ; Shynkarenko, V.V. ; Kudryk, R.Ya. ; Sai, P.O.
Інший ID: DOI: 10.15407/spqeo19.03.248
PACS 44.05.+e, 02.70.Rr, 42.72.-g
URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121585
Посилання: Degradation processes in LED modules / V.M. Sorokin, Ya.Ya. Kudryk, V.V. Shynkarenko, R.Ya. Kudryk, P.O. Sai // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 3. — С. 248-254. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
Дата: 2016
Переглядів: 883
Завантажень: 368
Degradation processes in LED modules

Анотація:

Electrical-heat-light degradation model of a light-emitting module has been developed in this work. The Monte-Carlo method was used to calculate the reliability time of LED modules with different halfwidth of LED chip series resistance. Separation of LED chips with different series resistance before assembling may increase the time of emission in a stable mode up to 10%.

Показати повний запис статті

Файли у цій статті

Icon
Name: 02-Sorokin.pdf
Розмір: 839.1Кб
Формат: PDF
Перегляд/Відкрити

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис