Флуктуационная проводимость и псевдощель в пленках Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y

Abstract

Исследованы флуктуационная проводимость (ФП) и псевдощель (ПЩ) в пленках Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y с x ≈ 0,1. Показано, что температурная зависимость ФП такая же, как и в пленках YBa₂Cu₃O₇₋y при наличии дефектов. В то же время температурная зависимость ПЩ отличается от аналогичной зависимости, полученной для пленок YBa₂Cu₃O₇₋y. Обнаружено увеличение длины когерентности и снижение характеристической температуры T* в Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y при увеличении концентрации Pr.

Досліджено флуктуаційну провідність (ФП) та псевдощілину (ПЩ) у плівках Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y з x ≈ 0,1. Показано, що температурна залежність ФП така ж, як і в плівках YBa₂Cu₃O₇₋y при наявності дефектів. У той же час температурна залежність ПЩ відрізняється від аналогічної залежності, отриманої для плівок YBa₂Cu₃O₇₋y. Виявлено збільшення довжини когерентності й зниження характеристичної температури T* в Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y при збільшенні концентрації Pr.

Fluctuation conductivity (FC) and pseudogap (PG) have been analyzed for Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y films with x ≈ 0,1. The temperature dependence of FC is shown to be the same as that in YBa₂Cu₃O₇₋y films with a defect structure. At the same time the temperature dependence of PG is different compared with that obtained for the YBa₂Cu₃O₇₋y films. It is also found that in Y₁₋xPrхBa₂Cu₃O₇₋y films an increase in Pr concentration results in increase of coherence length as well as in decrease of T*.