Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Ivashchenko, O.M. |
|
dc.contributor.author |
Shwarts, Yu.M. |
|
dc.contributor.author |
Shwarts, M.M. |
|
dc.contributor.author |
Kopko, D.P. |
|
dc.contributor.author |
Sypko, N.I. |
|
dc.date.accessioned |
2017-05-30T16:07:44Z |
|
dc.date.available |
2017-05-30T16:07:44Z |
|
dc.date.issued |
2010 |
|
dc.identifier.citation |
Smoothing cubic spline approximation of silicon diode temperature
sensors thermometric characteristics / O.M. Ivashchenko, Yu.M. Shwarts, M.M. Shwarts, D.P. Kopko, N.I. Sypko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 4. — С. 374-378 — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1560-8034 |
|
dc.identifier.other |
PACS 02.60.Ed, Gf; 06.20.Fb; 07.20.Dt |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118554 |
|
dc.description.abstract |
Shown in this paper is the efficiency of a smoothing cubic spline
approximation for temperature response curves (TRC) of wide range silicon diode
thermometers (SDTs). The offered calculation algorithm allows to describe TRC with a
high accuracy and receive the interpolation tables with any temperature step. It allows
essentially to expand SDT field of application. |
uk_UA |
dc.language.iso |
en |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|
dc.title |
Smoothing cubic spline approximation of silicon diode temperature sensors thermometric characteristics |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті