Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів

Abstract

Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі.

Исследована возможность измерения стехиометрии сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире.

The possibility of sapphire stoichiometry determination by X-ray dispersion measurements was studied. The measurements were carried out using the X-ray fluorescent spectrometer adjusted in X-ray optical scheme with the secondary radiation source. The parameters measured were X-ray dispersion integral intensities of coherent (Ik) and incoherent (Ir) peaks. The concentrations of the F- and F⁺ centers were measured by the optical absorption at 206, 225 and 255 nm wavelengths. The existence of a certain relation between Ik/Ir value and sapphire stoichiometry was revealed. The formula for cation vacancies quantity determination in the sapphire is proposed.