Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

dc.contributor.author	Жарков, И.П.
dc.contributor.author	Иващенко, А.Н.
dc.contributor.author	Руденко, Э.М.
dc.contributor.author	Короташ, И.В.
dc.contributor.author	Краковный, А.А.
dc.contributor.author	Сафронов, В.В.
dc.contributor.author	Ходунов, В.А.
dc.contributor.author	Руденко, А.Э.
dc.date.accessioned	2017-03-06T14:48:07Z
dc.date.available	2017-03-06T14:48:07Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	1815-2066
dc.identifier.other	DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309
dc.description.abstract	Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.	uk_UA
dc.description.abstract	Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.	uk_UA
dc.description.abstract	The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed.	uk_UA
dc.description.sponsorship	Работа выполнена в рамках Программы научного приборостроения НАН Украины.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Видавничий дім "Академперіодика" НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Наука та інновації
dc.subject	Наукові основи інноваційної діяльності	uk_UA
dc.title	Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии	uk_UA
dc.title.alternative	Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії	uk_UA
dc.title.alternative	The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA