Виявлення початку формування двовимірного електронного газу на поверхні топологічного ізолятора

Abstract

Розвинуто методу попіксельного зіставлення інтенсивности фотоемісійних спектрів з кутовим розріжненням та зареєстровано з його допомогою початок формування двовимірного електронного газу на поверхні топологічного ізолятора. Також розроблена метода уможливлює оцінити ступінь нелінійности фотоелектронного детектора безпосередньо з експериментальних даних, що створює необхідні умови для аналізи форми ліній фотоемісійних спектрів.

Развит метод попиксельного сопоставления интенсивности фотоэмиссионных спектров с угловым разрешением и с его помощью зарегистрировано начало формирования двумерного электронного газа на поверхности топологического изолятора. Также разработанный метод позволяет оценить степень нелинейности фотоэлектронного детектора непосредственно из экспериментальных данных, что создаёт необходимые условия для анализа формы линий фотоэмиссионных спектров.

A method of pixel-by-pixel intensity comparison for angle resolved photoemission spectra is developed. This method is used to detect the beginning of two-dimensional electron-gas formation on the surface of a topological insulator. In addition, the developed method allows estimating the degree of nonlinearity of the photoelectron detector directly from the experimental data. It creates the necessary conditions for the analysis of shape of the line of photoemission spectra.