Использование допплеровского уширения аннигиляционного излучения позитронов для изучения рекристаллизации цинка

Abstract

Метод допплеровского уширения аннигиляционных линий использовался для изучения влияния пласти-ческой деформации и последующего отжига цинка. Источником позитронов были изотопы ⁶⁵Zn, полученные в реакции ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn непосредственно в исследуемом образце, что позволило уменьшить фон в окрестности 511 кэВ. Обнаружен минимум отношения одной компоненты, которая связана с аннигиляцией позитронов на электронах проводимости, к другой компоненте, которая вызвана аннигиляцией позитронов на электронах ионного остова. Этот минимум при температуре 100 °С обусловлен образованием пор.

Метод допплеровського розширення анігіляційних ліній використовувався для вивчення впливу пластичної деформації й наступного відпалу цинку. Джерелом позитронів були ізотопи ⁶⁵Zn, отримані в реакції ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn безпосередньо в досліджуваному зразку, що дозволило зменшити фон в районі 511 кеВ. Виявлено мінімум відношення компоненти, обумовленої анігіляцією позитронів на електронах провідності, до компоненти, що обумовлена анігіляцією позитронів на електронах іонного остову. Цей мінімум при температурі 100 °С обумовлений утворенням пор.

The method of Doppler broadering of annihilation lines was used for studying influence of plastic deformation and the subsequent annealing of zinc. A source of positrons were isotopes ⁶⁵Zn, received in reaction ⁶⁶Zn(γ,n)⁶⁵Zn is direct in a researched sample that has allowed to reduce a background in a vicinity 511 кeV. The minimum of the relation the components, caused annihilate positrons on electron conductivity, to the component which is caused annihilate positrons on electron an ionic core is found out, at temperature 100 °С which is caused by formation of void.