Представлено описание конструкции источника многозарядных ионов (ИМИ) и результаты предварительных стендовых испытаний. Исследованы следующие характеристики ИМИ: зависимость тока разряда (Ip) и суммарного тока (It) ионов, извлекаемых из источника, от потенциала анода при постоянном напуске рабочего газа; зависимость Ip и It от величины напуска рабочего газа при фиксированном потенциале анода; определен зарядовый состав ионов пучка и соотношение между токами ионов различной зарядности; выбрана оптимальная оптическая система первичного формирования пучка на основе измерения профилей пучка, определения радиусов пучка и углов расходимости.
Представлено конструкцію джерела багатозарядних іонів (ДБІ) та результати попередніх стендових випробувань. Досліджено наступні характеристики ДБІ: залежність струму розряду (Ip) та загального струму (It) іонів, отриманого з джерела, від потенціалу анода при постійному напуску робочого газу; залежність Ip і It від величини напуску робочого газу при фіксованому потенціалі анода; визначено зарядовий склад іонів пучка та співвідношення між струмами іонів різного заряду; вибрана оптимальна оптична система первинного формування пучка на основі виміряних профілів пучка, визначених радіусів пучка та кутів розходження.
The design description of multiply charged ions source (MIS) and results of preliminaries bench tests are presented. Such characteristics of MIS were studied: dependence of the discharge current (Id) and total ion current (It), which were extracted from the source, on the anode potential for constant gas flow; dependence of Id and It on the value of gas flow for constant anode potential; charge distribution of ion beam and ratio between charges states of ions were determined; optimal optic system for primary formation of ion beam on the base of measured ion beam profiles, radiuses of ion beam and angles of divergence, was chosen.