<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" version="2.0">
<channel>
<title>Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001, № 1</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70814</link>
<description/>
<pubDate>Tue, 07 Apr 2026 09:40:29 GMT</pubDate>
<dc:date>2026-04-07T09:40:29Z</dc:date>
<image>
<title>Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001, № 1</title>
<url>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/bitstream/id/210552/</url>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70814</link>
</image>
<item>
<title>Международная выставка "Минский салон оборонной промышленности-2001"</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70832</link>
<description>Международная выставка "Минский салон оборонной промышленности-2001"
</description>
<pubDate>Mon, 01 Jan 2001 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70832</guid>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Международный форум по термоэлектричеству</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70831</link>
<description>Международный форум по термоэлектричеству
Моисеев, В.М.; Вайнер, А.Л.
</description>
<pubDate>Mon, 01 Jan 2001 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70831</guid>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70830</link>
<description>Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок
Стерхова, А.В.; Ушаков, П.А.; Жарков, П.Н.
Применение современных средств компьютерной обработки изображения позволило создать физическую структурную и кластерную модели толстой серебропалладиевой резистивной пленки с учетом как топологических, так и метрических характеристик. Использование Оже-метода сделало возможным идентифицировать характерные участки микроструктуры толстопленочного резистора (ТПР) по элементному составу с высокой степенью локальности и достоверности. Впервые выявлен бимодальный характер распределения длины проводящих цепочек и длины макросвязей между гранулами проводящей фазы, полученной по кластерной модели, что необходимо для оценки ширины потенциального барьера при проявлении тунельно-барьерного механизма и расстояния между локализованными состояниями для термоактивационного механизма электропроводности ТПР.
</description>
<pubDate>Mon, 01 Jan 2001 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70830</guid>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Оптоэлектронный люминесцентный газоанализатор</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70829</link>
<description>Оптоэлектронный люминесцентный газоанализатор
Плавинский, Е.Б.; Копытчук, Н.Б.
Разработан оптоэлектронный газоанализатор кислорода, в котором используется люминесцентный метод. В приборе применены твердотельные источники и приемники излучений, а чувствительный элемент выполнен на основе полимерной матрицы с внедренным в нее люминесцентным металлоорганическим комплексом.Диапазон измерений концентрации кислорода 0—25%, погрешность не более 1%.
</description>
<pubDate>Mon, 01 Jan 2001 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70829</guid>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
</channel>
</rss>
