<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" version="2.0">
<channel>
<title>Физическая инженерия поверхности, 2013, № 1</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/69659</link>
<description/>
<pubDate>Thu, 09 Apr 2026 13:00:00 GMT</pubDate>
<dc:date>2026-04-09T13:00:00Z</dc:date>
<image>
<title>Физическая инженерия поверхности, 2013, № 1</title>
<url>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/bitstream/id/207324/</url>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/69659</link>
</image>
<item>
<title>Влияние нейтронного облучения на процессы модуляции базовой области кремниевой p⁺nn⁺-структуры</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99817</link>
<description>Влияние нейтронного облучения на процессы модуляции базовой области кремниевой p⁺nn⁺-структуры
Рахматов, А.З.
Приведены результаты исследования влияния нейтронного облучения на характер зависимости&#13;
 емкости от запирающего напряжения кремниевой p⁺nn⁺-структуры. Под воздействием&#13;
 нейтронного облучения дозой 3⋅10¹⁵ н/см² обнаружено увеличение исходной толщины слоя&#13;
 объемного заряда p⁺n-перехода в два с половиной раза, что объясняется образованием i-слоя&#13;
 у границы с p⁺n-переходом. При этом достижение заданной напряженности электрического&#13;
 поля после облучения достигается при напряжениях в два раза больших, в результате&#13;
 уменьшается емкость структуры и время включения ограничительного диода.; Наведено результати дослідження впливу нейтронного опромінення на характер залежності&#13;
 ємності від замикаючої напруги кремнієвої p⁺nn⁺-структури. Під впливом нейтронного&#13;
 опромінення дозою 3⋅10¹⁵ н/см² виявлене збільшення вихідної товщини шару об’ємного заряду&#13;
 p⁺n-переходу у два з половиною рази, що пояснюється утворенням і-шару в границі з p⁺n-&#13;
 переходом. При цьому досягнення заданої напруженості електричного поля після опромінення&#13;
 досягається при напругах у два рази більших, у результаті зменшується ємність структури та&#13;
 час включення обмежувального діода.; The results of research of the influence of neutron irradiation on the dependence of the capacitance&#13;
 on the reverse voltage of silicon p⁺nn⁺-structure are given. Under the influence of neutron irradiation&#13;
 dose of 3·10¹⁵ n/cm²&#13;
 is found the expansion of initial thickness of the p⁺n-junction’s space charge –&#13;
 two and a half times, which is explained with formation of i-layer near the border of p⁺n-junction.&#13;
 While achieving a given electric field strength after exposure achieved with twice higher voltages. As&#13;
 a result is reduced the capacitance of the structure and turn-on time of the transient voltage suppressor.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2013 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99817</guid>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Спектральные свойства М-n⁺CdS-nCdSхTe1-х-pZnхCd1-хTe-Mо-структуры для инжекционного фотоприемника</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99816</link>
<description>Спектральные свойства М-n⁺CdS-nCdSхTe1-х-pZnхCd1-хTe-Mо-структуры для инжекционного фотоприемника
Мирсагатов, Ш.А.; Атабоев, О.К.; Заверюхин, Б.Н.
На основе соединений A²B⁶  создана пленочная In-n⁺(CdS)-n(CdSx&#13;
 Te1-x)-p(Znx&#13;
 Cd1-xTe)-Mo-структура фоточувствительная в диапазоне длин волн λ = 0,49–0,855 мкм при комнатных&#13;
 температурах. Новизной в устройстве является наличие твердых растворов соединений&#13;
 A²B⁶, что позволяет расширить диапазон спектральной чувствительности. При пропускном&#13;
 направлении тока (когда положительный потенциал “+V” приложен к Мо-контакту) структура&#13;
 ведет себя как фотоприемник с инверсией знака фототока I(λ) способного без помех эффективно&#13;
 регистрировать длины волн видимой области спектра. При обратных направлениях фототока&#13;
 структура работает в режиме внутреннего усиления первичного фототока и представляет собой&#13;
 основу для создания инжекционного фотоприемника с высокой спектральной фоточувствительностью в видимой области спектра. Выявлены механизмы усиления и инверсии фототока.; На основіз’єднань A²B⁶ створена плівкова Іn-n⁺ (CdS)-n(CdSx&#13;
 Te1-x)-p(Znx&#13;
 Cd1-xTe)-Mo-структура&#13;
 фоточутлива в діапазоні довжин хвиль λ = 0,49-0,855 напівтемних при кімнатних температурах.&#13;
 Новизною в пристрої є наявність твердих розчинів з’єднань  A²B⁶, що дозволяє розширити діапазон&#13;
 спектральної чутливості. При пропускному напрямку струму (коли позитивний потенціал “+V”&#13;
 прикладений до Мо-контакту) структура поводиться як фотоприймач із інверсією знака&#13;
 фотоструму I(λ) здатного без перешкод ефективно реєструвати довжини хвиль видимої області&#13;
 спектра. При зворотних напрямках фотоструму структура працює в режимі внутрішнього&#13;
 посилення первинного фотоструму і являє собою основу для створення инжекционного фотоприймача з високою спектральною фоточутливістю у видимій області спектра. Виявлено&#13;
 механізми посилення й інверсії фотоструму.; Photosensitive film structure of  A²B⁶&#13;
 compounds In-n⁺(CdS)-n(CdSx&#13;
 Te1-x)-p(Znx&#13;
 Cd1-xTe)-Mois&#13;
 created for wave range λ = 0,49-0,855 јm and for work at room temperatures. Novelty of the&#13;
 de-vice is presence of solid solutions A²B⁶, that allows to expand its spectral sensitivity range.&#13;
 The structure behaves as the photoreceivers with inversion of mark of photocurrent I(λ) if positive&#13;
 potential “+V” is enclosed to Мо- to contact. The inversion structure capable effectively to register&#13;
 without handicapes different waves of the visible spectral range. The structure increases&#13;
 a primary photocurrent at reverse bias, when potential “−V” is applied to Mo- contact. In this&#13;
 case the structure is a basis for creation of injection photoreceiver, which has high spectral photosensitivity&#13;
 in the visible spectral range.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2013 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99816</guid>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Структура пористих вуглецевих матеріалів згідно методу адсорбції/десорбції азоту</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99815</link>
<description>Структура пористих вуглецевих матеріалів згідно методу адсорбції/десорбції азоту
Мандзюк, В.І.; Лісовський, Р.П.; Нагірна, Н.І.; Рачій, Б.І.
Досліджено зміни пористої структури вуглецевого матеріалу, отриманого методом гідротермальної карбонізації рослинної сировини (кісточки абрикосу) в інтервалі температур&#13;
873 ÷ 1373 К. Встановлено, що вуглецевий матеріал володіє розвиненою пористою структурою,&#13;
сформованою мікро- і мезопорами. Зростання температури карбонізації призводить до&#13;
зменшення кількості обох типів пор та збільшення відносної частки мезопор щодо загального&#13;
об’єму пор.; Исследованы изменения пористой структуры углеродного материала, полученного методом&#13;
гидротермальной карбонизации растительного сырья (косточки абрикоса) в интервале температур 873 ÷1373 К. Установлено, что углеродный материал обладает развитой пористой&#13;
структурой, сформированной микро- и мезопорами. Рост температуры карбонизации приводит&#13;
к уменьшению количества обоих типов пор и увеличению относительной доли мезопор относительно общего объема пор.; The changes of porous structure of the carbon material, got by the hydrothermal carbonization method&#13;
of plant raw material (apricot stones) in the temperature interval of 873 ÷ 1373 К, are explored. It is&#13;
set, that carbon material owns the developed porous structure, formed micro- and mesopores. The&#13;
growth of carbonization temperature results in reduction of amount of both types of pores and increase&#13;
of relative part of mesopores in relation to the general pore volume.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2013 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99815</guid>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item>
<title>Вплив іонного бомбардування і шорсткості вихідної поверхні на оптичні параметри аморфних металевих сплавів</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99814</link>
<description>Вплив іонного бомбардування і шорсткості вихідної поверхні на оптичні параметри аморфних металевих сплавів
Карпуша, В.Д.; Швець, У.С.
У роботі досліджувався вплив бомбардування низькоенергетичними іонами аргону на оптичні&#13;
 властивості аморфних металевих сплавів Ni₄₀Fe₄₀B₂₀ та Ni₄₀Fe₅₀B₁₀  в діапазоні довжин хвиль&#13;
 волн λ = 500⋅10⁻⁶ – 1250⋅10⁻⁶ м. У результаті еліпсометричних вимірювань та вирішення оберненої задачі еліпсометрії встановлені оптичні характеристики сплавів. Показано, що бомбардування поверхні аморфних сплавів низькоенергетичними іонами призводить до зменшення&#13;
 оптичної товщини поверхневого шару. Виявлено, що “підкладки” різних за первинним станом&#13;
 поверхонь після полірування мають, практично, однакові показники поглинання ізаломлення.; В работе исследовалось влияние бомбардировки низкоэнергетическими ионами аргона на&#13;
 оптические свойства аморфных металлических сплавов Ni₄₀Fe₄₀B₂₀ и Ni₄₀Fe₅₀B₁₀ в диапазоне&#13;
 длин волн λ = 500⋅10⁻⁶ – 1250⋅10⁻⁶ м. В результате эллипсометрических измерений и решения&#13;
 обратной задачи эллипсометрии установлены оптические характеристики сплавов. Показано,&#13;
 что бомбардировка поверхности аморфных сплавов низкоэнергетичными ионами приводит к&#13;
 уменьшению оптической толщины поверхностного слоя. Выявлено, что “подложки”, различные&#13;
 по первичному состоянию поверхностей, после полировки имеют, практически, одинаковые&#13;
 показатели поглощения и преломления.; In the present work the influence of bombardment of low energy argon ions on optical properties of&#13;
 metal alloys Ni₄₀Fe₄₀B₂₀ and Ni₄₀Fe₅₀B₁₀ has been investigated in the range of wavelengths from&#13;
 λ = 500⋅10⁻⁶ to λ = 1250⋅10⁻⁶ m. On the basis of ellipsometric measurements and inverse ellipsometry&#13;
 problem solution the alloys optical characteristics have been determined. It is shown that, bombardment&#13;
 of the amorphous alloys by low energy ions leads to decrease in optical thickness of the surface layer.&#13;
 It is found, that “substrates” having different surfaces after polishing have the same reflection and&#13;
 refraction indices.
</description>
<pubDate>Tue, 01 Jan 2013 00:00:00 GMT</pubDate>
<guid isPermaLink="false">http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/99814</guid>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
</channel>
</rss>
