Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/53693 Sat, 11 Apr 2026 12:37:09 GMT 2026-04-11T12:37:09Z Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/bitstream/id/159115/ http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/53693 Выставки. Конференции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54438 Выставки. Конференции Thu, 01 Jan 2004 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54438 2004-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54437 В портфеле редакции Thu, 01 Jan 2004 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54437 2004-01-01T00:00:00Z Новые книги http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54436 Новые книги Thu, 01 Jan 2004 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54436 2004-01-01T00:00:00Z Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54435 Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Павлюк, С.П.; Ищук, Л.В.; Кислицын, В.М. Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла. Thu, 01 Jan 2004 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54435 2004-01-01T00:00:00Z