Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2006, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52904 Mon, 06 Apr 2026 08:53:16 GMT 2026-04-06T08:53:16Z Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2006, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/bitstream/id/156887/ http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52904 Выставки. Конференции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52925 Выставки. Конференции Sun, 01 Jan 2006 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52925 2006-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52924 В портфеле редакции Sun, 01 Jan 2006 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52924 2006-01-01T00:00:00Z Новые книги http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52923 Новые книги Sun, 01 Jan 2006 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52923 2006-01-01T00:00:00Z Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52922 Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Блецкан, Д.И.; Лукьянчук, А.Р.; Пекар, Я.М. Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках. Sun, 01 Jan 2006 00:00:00 GMT http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52922 2006-01-01T00:00:00Z