Физика и техника высоких давлений, 2017 (том 27)

Правила оформления рукописей для авторов журнала «Физика и техника высоких давлений»

Sun, 01 Jan 2017 00:00:00 GMT

Правила оформления рукописей для авторов журнала «Физика и техника высоких давлений»

Авторский указатель за 2017 год

Sun, 01 Jan 2017 00:00:00 GMT

Авторский указатель за 2017 год

Сверхпроводниковые магнитные системы гиротронов

Sun, 01 Jan 2017 00:00:00 GMT

Сверхпроводниковые магнитные системы гиротронов Варюхин, Д.В.; Таряник, Н.В.; Федюк, Д.О. Представлены результаты разработки и исследований трех конструкций сверхпроводниковых магнитных систем (СМС) гиротронов с заданным распределением поля вдоль оси на расстоянии до ±400 mm и длиной зоны однородности от 50 до 200 mm.; The results of development and testing of three designs of superconducting magnetic systems (SMS) of gyrotrons with controlled field distribution along the axis at the distance up to ±400 mm and within the zone of uniformity ranging from 50 to 200 mm in length are presented.

Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок

Sun, 01 Jan 2017 00:00:00 GMT

Особенности методов контроля толщины тонких эпитаксиальных LSMO-пленок Николаенко, Ю.М.; Бурховецкий, В.В.; Корнеевец, А.С.; Эфрос, Н.Б.; Решидова, И.Ю.; Тихий, А.А.; Жихарев, И.В.; Фарапонов, В.В. Экспериментально изучены особенности контроля наноразмерной толщины пленок La₀.₇Sr₀.₃MnO₃ (LSMO) с помощью гравиметрического метода и SEM-изображений бокового скола пленки. Предложен косвенный метод контроля толщины пленок, основанный на анализе данных по относительному содержанию атомов в пленочных структурах, которое регистрируется энергодисперсионным спектрометром со стороны пленки. Для оценки малых толщин d < 100 nm теоретически рассмотрена возможность контроля толщины пленок по величине коэффициента пропускания оптического излучения с длиной волны 633 nm.; The features of measurement of nanoscale thickness of the La₀.₇Sr₀.₃MnO₃ (LSMO) films by the gravimetric method as well as with the help of the SEM images of film crosssection were investigated experimentally. We proposed a new indirect method of the film thickness control using analysis of the relative content of atoms in the film structure, which is registered by the energy dispersive spectrometer from the film side. For the estimation of small thickness d < 100 nm, we considered theoretically the possibility of the film thickness control the using values of transmission coefficient of optic radiation with the wavelength of 633 nm/