Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 3
http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/53693
2026-04-11T12:40:21ZВыставки. Конференции
http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54438
Выставки. Конференции
2004-01-01T00:00:00ZВ портфеле редакции
http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54437
В портфеле редакции
2004-01-01T00:00:00ZНовые книги
http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54436
Новые книги
2004-01-01T00:00:00ZЭкспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54435
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Павлюк, С.П.; Ищук, Л.В.; Кислицын, В.М.
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
2004-01-01T00:00:00Z