Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2006, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52904 2026-04-06T08:49:16Z Выставки. Конференции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52925 Выставки. Конференции 2006-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52924 В портфеле редакции 2006-01-01T00:00:00Z Новые книги http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52923 Новые книги 2006-01-01T00:00:00Z Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52922 Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Блецкан, Д.И.; Лукьянчук, А.Р.; Пекар, Я.М. Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках. 2006-01-01T00:00:00Z