<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rdf:RDF xmlns="http://purl.org/rss/1.0/" xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<channel rdf:about="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/121900">
<title>Физика низких температур, 2015, № 03</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/121900</link>
<description/>
<items>
<rdf:Seq>
<rdf:li rdf:resource="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122054"/>
<rdf:li rdf:resource="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122053"/>
<rdf:li rdf:resource="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122052"/>
<rdf:li rdf:resource="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122051"/>
</rdf:Seq>
</items>
<dc:date>2026-04-11T20:07:39Z</dc:date>
</channel>
<item rdf:about="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122054">
<title>О возможности измерения энергетической щели сверхпроводников с помощью квантового интерференционного устройства</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122054</link>
<description>О возможности измерения энергетической щели сверхпроводников с помощью квантового интерференционного устройства
Бондаренко, С.И.; Коверя, В.П.; Кревсун, А.В.; Гнездилова, Л.В.
Экспериментально установлено влияние температуры на вид дискретных изменений тока в высокоиндуктивном (~10⁻⁶ Гн) двухсвязном сверхпроводнике (ДСП) с прижимным точечным контактом (ПТК) ниобий–ниобий. Измерена величина и длительность импульса напряжения на ДСП, возникающего в момент дискретного изменения его токового состояния. Величина импульса близка к значению энергетической щели сверхпроводника 2Δ/e, а его длительность (~10⁻⁶ с) соответствует минимально возможному времени (~10⁻¹² с) изменения состояния контакта при достижении тока распаривания через него. Результаты измерений обсуждаются на основе модельных представлений об особенностях квантовой интерференции токов в ДСП с ПТК в виде квантового интерферометра.; Експериментально встановлено вплив температури на вигляд дискретних змін струму у високоіндуктивному (~10⁻⁶ Гн) двозв’язному надпровіднику (ДНП) з притискним точковим контактом (ПТК) ніобій–ніобій. Виміряно величину й тривалість імпульсу напруги на ДНП, що виникає у момент дискретної зміни його струмового стану. Величина імпульсу близька до значення енергетичної щілини надпровідника 2∆/e, а його тривалість (~10⁻⁶ с) відповідає мінімально можливому часу (~10⁻¹² с) зміни стану контакту при досягненні струму розпарювання через нього. Результати вимірювань обговорюються на основі модельних уявлень про особливості квантової інтерференції струмів в ДНП з ПТК у вигляді квантового інтерферометра.; Influence of temperature on a kind of discrete changes of a current in high inductive (~10⁻⁶ H) a double-connected superconductor (DCS) with clamping point contact (CPC) niobium–niobium is experimentally established. The value and duration of a voltage impulse on DCS at discrete change of its current state are measured. The amplitude of the impulse is close to value of a power gap of a superconductor 2Δ/e, and its duration (~10⁻⁶ s) corresponds to minimally possible time (~10⁻¹² s) of changing of a contact state at achievement of a depairing current through it. Results of measurements are discussed on the basis of modeling representations about features of a quantum interference of currents in DCS with CPC in the form of quantum interferometer.
</description>
<dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item rdf:about="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122053">
<title>Влияние молекулярной примеси азота на фотолюминесценцию фуллерита C₆₀</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122053</link>
<description>Влияние молекулярной примеси азота на фотолюминесценцию фуллерита C₆₀
Зиновьев, П.В.; Зорянский, В.Н.; Мелешко, В.В.; Стеценко, Ю.Е.
В температурном интервале 20–230 К спектрально-люминесцентным методом исследованы поликристаллические образцы фуллерита С₆₀ с различной концентрацией примеси молекул азота. Для растворов С₆₀–N₂ установлены существенные изменения характеристик фотолюминесценции. При Т = 20 К обнаружен значительный вклад люминесценции центров свечения («глубокие Х-ловушки»), определяемый концентрацией молекул N₂ в октаэдрических полостях ГЦК решетки фуллерита. На основании наблюдаемого в экспериментах различия влияния примеси азота на структурные и люминесцентные характеристики растворов С₆₀–N₂ сделан вывод о существенно неоднородном заполнении решеточных пустот (от поверхности) в глубину образцов. Изучены температурные зависимости интегральной интенсивности излучения образцов с разной концентрацией азота. Показано, что молекулы N₂ оказывают слабое влияние на процесс формирования ориентационного стекла фуллерита. Для исследованных растворов С₆₀–N₂ экспериментально зафиксирована тенденция понижения температуры стеклования при увеличении концентрации примеси.; В температурному інтервалі 20–230 К спектрально-люмінесцентним методом досліджені полікристалічні зразки фулериту С₆₀ з різною концентрацією домішки молекул азоту. Для розчинів С₆₀–N₂ встановлено значні зміни характеристик фотолюмінісценції. При Т = 20 К виявлено значний вклад люмінесценції центрів висвічування («глибокі Х-уловлювачі»), який визначається концентрацією молекул N₂ в октаедричних порожнинах ГЦК гратки фулериту. На підставі спостережуваної в експериментах відмінності впливу домішки азоту на структурні та люмінесцентні характеристики розчину С₆₀–N₂ зроблено висновок про суттєво неоднорідне заповнення граткових порожнин (від поверхні) в глибину зразків. Вивчено температурні залежності інтегральної інтенсивності випромінювання зразків з різною концентрацією азоту. Показано, що молекули N₂ мають слабкий вплив на процес формування орінтаційного скла фулериту. Для досліджених розчинів С₆₀–N₂ експериментально зафіксовано тенденцію зниження температури склування при збільшенні концентрації домішки.; The polycrystalline samples of fullerite C₆₀ of different nitrogen impurity concentration have been studied in the temperature range 20–230 K by using the luminescence-spectroscopy method. It is found that the photoluminescence characteristics of the C₆₀–N₂ solutions demonstrate substantial changes. At T = 20 K one can observe an essential contribution from the luminescence centers (“deep X-trap”) determined by the N₂ molecule concentration in the octahedral voids of the fullerite C₆₀ fcc lattice. The difference in the influences of nitrogen impurity on the structural and luminescence characteristics of the C₆₀–N₂ observed in the experiments allows one to conclude that the filling of the lattice voids in depth (down from the surface) of the samples is rather inhomogeneous. The temperature dependences of integrated intensity of radiation of the samples with different nitrogen concentrations are investigated. It is shown the N₂ molecules have little effect on the formation of orientational glass fullerite. It is established experimentally that in the C₆₀–N₂ solutions there is a tendency for the glass transition temperature to be decreased with increasing impurity concentration.
</description>
<dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item rdf:about="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122052">
<title>Anisotropic g factors of the tetragonal Cu²⁺ monomer in Tl-2223 superconductor</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122052</link>
<description>Anisotropic g factors of the tetragonal Cu²⁺ monomer in Tl-2223 superconductor
Zhi-Hong Zhang; Shao-Yi Wu; Min-Quan Kuang; Chang-Chun Ding
The gyromagnetic factors of the Cu²⁺ monomer in Tl-2223 superconductor are quantitatively investigated from the perturbation formulas of these factors for a 3d⁹ ion in a tetragonally elongated octahedron. The local tetragonal distortion of the system is attributable to the axial elongation along c axis, corresponding to the five-fold coordinated Cu²⁺(2) site with almost 30% longer Cu–O bond length for the apical oxygen as compared to the four planar ones. The significant anisotropic behaviors of the EPR spectra perpendicular to and parallel with the ab (CuO₂) layers are analyzed on the basis of the local tetragonal elongation.
</description>
<dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
<item rdf:about="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122051">
<title>Ползучесть твердого ⁴Не при температурах ниже 1 К</title>
<link>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/122051</link>
<description>Ползучесть твердого ⁴Не при температурах ниже 1 К
Жучков, В.А.; Лисунов, А.А.; Майданов, В.А.; Неонета, А.С.; Рубанский, В.Ю.; Рубец, С.П.; Рудавский, Э.Я.; Смирнов, С.Н.
В области температур ~ 100–1000 мК проведено экспериментальное исследование ползучести твердого ⁴Не путем регистрации перетекания гелия через вмороженную пористую мембрану под действием постоянной внешней силы. Измерены кривые ползучести при различных температурах и механических напряжениях. Использованная методика позволила зарегистрировать малые скорости ползучести гелия вплоть до самых низких температур данного эксперимента. Обнаружено, что во всей области температур процесс ползучести является термоактивированным, а энергия активации уменьшается с понижением температуры и ростом механического напряжения. Проведенный анализ свидетельствует о том, что при температурах выше ≈ 500 мК в твердом гелии реализуется диффузионная ползучесть типа Набарро– Херринга, когда массоперенос осуществляется путем самодиффузии атомов и потока вакансий в противоположном направлении. Полученные данные позволили найти коэффициент самодиффузии в зависимости от температуры при различных напряжениях. При температурах ниже ≈ 500 мК процесс ползучести осуществляется с очень малой скоростью переноса (~ 10⁻¹³ см/с) и очень низкой энергией активации (~ 0,5–0,7 К), а сам механизм ползучести пока остается неясным.; В області температур ~ 100–1000 мК проведено експериментальне дослідження повзучості твердого ⁴Не шляхом реєстрації перетікання гелію через вморожену пористу мембрану під дією сталої зовнішньої сили. Виміряно криві повзучості при різних температурах і механічних напругах. Методика, що використовувалась, дозволила зареєструвати малі швидкості повзучості гелію аж до самих низьких температур даного експерименту. Встановлено, що у всій області температур процес повзучості є термоактивованим, а енергія активації зменшується зі зниженням температури та ростом механічної напруги. Проведений аналіз свідчить на користь того, що при температурах вище ≈ 500 мК у твердому гелії реалізується дифузійна повзучість типу Набарро–Херрінга, коли масопереніс здійснюється шляхом самодифузії атомів і потоку вакансій у протилежному напрямі. Отримані дані дозволили знайти коефіцієнт самодифузії в залежності від температури при різних напругах. При температурі нижче ≈ 500 мК процес повзучості здійснюється з дуже малою швидкістю переносу ( ~ 10⁻¹³см/с) і дуже низькою енергією активації ( ~ 0,5–0,7 К), а сам механізм повзучості досі залишається неясним.; The experimental study of creep of solid ⁴He was carried out by recording helium flow across the frozen porous membrane under a constant external force in the temperature range ~ 100–1000 mK. The creep curves were measured at different temperatures and mechanical stresses. The method used in this work permitted us to record a small creep rate of helium down to the lowest temperature of the experiment. It is found that the creep in solid helium is a thermally activated process everywhere over the temperature region and the activation energy is reduced with decreasing temperature and increasing mechanical stress. The analysis showed that at temperatures above ≈ 500 mK there occurred a Nabarro–Herring type of diffusion creep in solid helium where the mass flow was carried out by the selfdiffusion of atoms and vacancies flow in the opposite direction. The experimental data permitted us to obtain the self-diffusion coefficient as a function of temperature at different mechanical stresses. At temperatures below ≈ 500 mK the creep process is realized at a very low flow rate (~ 10⁻¹³ cm/s) and a very low activation energy (~ 0.5–0.7 K) while the creep mechanism remains unclear.
</description>
<dc:date>2015-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</item>
</rdf:RDF>
