<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Радіофізика та електроніка, 2007, № 2</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/9481" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/9481</id>
<updated>2026-04-08T17:19:08Z</updated>
<dc:date>2026-04-08T17:19:08Z</dc:date>
<entry>
<title>Опто-акустическая фокусировка лазерного излучения на обрабатываемую поверхность</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10833" rel="alternate"/>
<author>
<name>Дзюбенко, М.И.</name>
</author>
<author>
<name>Колпаков, С.Н.</name>
</author>
<author>
<name>Кулишенко, Д.Ф.</name>
</author>
<author>
<name>Приёмко, А.А.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10833</id>
<updated>2010-08-09T09:05:59Z</updated>
<published>2007-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Опто-акустическая фокусировка лазерного излучения на обрабатываемую поверхность
Дзюбенко, М.И.; Колпаков, С.Н.; Кулишенко, Д.Ф.; Приёмко, А.А.
Рассмотрен разработанный авторами опто-акустический метод фокусировки лазерного излучения на поверхность изделия при лазерной размерной обработке. Представлен алгоритм слежения за фокусом в процессе гравировки и резки материала. Алгоритм основан на измерении геометрической формы поверхности изделия. Представлены результаты экспериментальной проверки разработанного метода. Показана его практическая реализуемость и технологическая эффективность.; Розглянуто розроблений авторами опто-акустичний&#13;
метод фокусування лазерного випромінювання на поверхню&#13;
виробу за лазерної розмірної обробки. Подано алгоритм стеження за фокусом у процесі гравірування і різання металу. Алгоритм засновано на вимірюванні геометричної форми поверхні&#13;
виробу. Подано результати експериментальної перевірки розробленого методу. Показана можливість його практичної реалізації та технологічна ефективність.; The opticacoustic method, developed by the authors, of a focusing&#13;
of laser radiation on a surface of an item is considered at laser&#13;
dimensional processing. The algorithm of tracking behind a focal&#13;
point in process engrave is shown and are sharp of a material. The&#13;
algorithm is based on measurement of the geometric form of a&#13;
surface of an item. The outcomes of experimental check of the&#13;
developed method are shown. The practical marketability and&#13;
technological efficiency is shown it.
</summary>
<dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Определение рельефа поверхности клинометрическим методом при избытке или недостатке исходных данных</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10832" rel="alternate"/>
<author>
<name>Дулова, И.А.</name>
</author>
<author>
<name>Корниенко, Ю.В.</name>
</author>
<author>
<name>Скуратовский, С.И.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10832</id>
<updated>2010-09-30T14:17:49Z</updated>
<published>2007-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Определение рельефа поверхности клинометрическим методом при избытке или недостатке исходных данных
Дулова, И.А.; Корниенко, Ю.В.; Скуратовский, С.И.
Дана формулировка метода определения рельефа поверхности по полю наклонов и поля наклонов по исходным изображениям. Показано, что при корректном статистическом подходе к задаче она может быть успешно решена как в случае переопределённой, так и в случае недоопредел?нной систем уравнений, связывающих рельеф с исходными данными. Возможности метода&#13;
продемонстрированы на компьютерных моделях.; Сформульовано метод визначення рел’єфу поверхні за полем нахилів та поля нахилів за вихідними зображеннями. Показано, що при коректному статистичному підході до задачі її можна успішно розв’язати як у випадку перевизначеної, так і у випадку недовизначеної систем рівнянь, що зв’язують рел’єф з вихідними даними. Можливості метода продемонстровано на комп’ютерних моделях.; The method of determining both the surface relief from the slope field and the slope field from initial images has been formulated in the present paper. It is shown that the problem can be successfully solved when using a correct statistical approach in the case of overdetermined and underdetermined system of equations that relates relief to initial data. The possibilities of the method are illustrated by computerized models.
</summary>
<dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Дисковый диэлектрический резонатор для низкотемпературных магниторезонансных исследований в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10831" rel="alternate"/>
<author>
<name>Деркач, В.Н.</name>
</author>
<author>
<name>Багмут, Т.В.</name>
</author>
<author>
<name>Головащенко, Р.В.</name>
</author>
<author>
<name>Корж, В.Г.</name>
</author>
<author>
<name>Недух, С.В.</name>
</author>
<author>
<name>Тарапов, С.И.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10831</id>
<updated>2010-08-09T09:06:39Z</updated>
<published>2007-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Дисковый диэлектрический резонатор для низкотемпературных магниторезонансных исследований в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн
Деркач, В.Н.; Багмут, Т.В.; Головащенко, Р.В.; Корж, В.Г.; Недух, С.В.; Тарапов, С.И.
Приведено описание экспериментов по исследованию эффекта электронного спинового резонанса (ЭСР) в миллиметровом диапазоне длин волн с резонансной ячейкой в виде высокодобротного дискового диэлектрического резонатора (ДДР) на модах шепчущей галереи.; Наведено опис експериментів (з) дослідження ефекту електронного спінового резонансу (ЕСР) у міліметровому&#13;
діапазоні довжин хвиль з резонансною коміркою у вигляді&#13;
дискового діелектричного резонатора (ДДР) на модах шепочучої галереї. В діапазоні робочих температур дотягнуто значення добротності ДДР Q = 30000–38000 з реперною ЭСР&#13;
меткой.; The description of electron spin resonance experiments in millimeter wave range by using the resonant cell as a high quality disk dielectric resonator on whispering gallery modes is resulted. The value of quality factor Q=30000?38000 is achieved with ESR mark in the field of working temperatures about Т = 4,2 K.
</summary>
<dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Моделирование импульсного фотоумножителя на основе pn-i-pn структуры с лавинными p-n переходами</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10830" rel="alternate"/>
<author>
<name>Лукин, К.А.</name>
</author>
<author>
<name>Сердейра, Х.A.</name>
</author>
<author>
<name>Максимов, П.П.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/10830</id>
<updated>2010-09-30T14:26:15Z</updated>
<published>2007-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Моделирование импульсного фотоумножителя на основе pn-i-pn структуры с лавинными p-n переходами
Лукин, К.А.; Сердейра, Х.A.; Максимов, П.П.
Моделируется усиление импульса в фотоумножителе на основе pn-i-pn структуры с внутренним (лавинно-каскадным)&#13;
усилением. Рассчитаны коэффициент усиления, быстродействие и шум лавинного умножения. Показано, что рассматриваемые&#13;
фотоумножители имеют высокий коэффициент усиления, низкий порог чувствительности по току и более надежны в работе по&#13;
сравнению с лавинными фотодиодами.; Моделюється імпульсний фотопомножувач на основі лавинної pn-i-pn структури з внутрішнім (лавинно-каскадним) посиленням. Розраховані коефіцієнт посилення,&#13;
швидкодія і шум лавинного множення. Показано, що фотопомножувачі на основі цих структур мають високий коефіцієнпосилення, низький поріг чутливості по струму і надійніші в&#13;
роботі в порівнянні з лавинними фотодіодами.; An impulsive photomultiplier is designed on the basis of avalanches&#13;
pn-i-pn structures with the internal (avalanche-cascade)&#13;
amplification. An amplification coefficient, fast-acting and noise&#13;
of avalanche multiplication are expected. It is shown that photomultipliers&#13;
on the basis of pn-i-pn structures have a high amplification&#13;
coefficient, low threshold of sensitiveness on a current and&#13;
more reliable in work as compared to avalanches photodiodes.
</summary>
<dc:date>2007-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
