<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Вопросы атомной науки и техники, 2006, № 5</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/76004" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/76004</id>
<updated>2026-05-01T02:12:27Z</updated>
<dc:date>2026-05-01T02:12:27Z</dc:date>
<entry>
<title>Floating potential of dielectric target in plasma-beam discharge with magnet field</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/82469" rel="alternate"/>
<author>
<name>Dobrovol`s`kii, A.M.</name>
</author>
<author>
<name>Evsyukov, A.N.</name>
</author>
<author>
<name>Goncharov, A.A.</name>
</author>
<author>
<name>Protsenko, I.M.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/82469</id>
<updated>2015-06-01T00:01:54Z</updated>
<published>2006-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Floating potential of dielectric target in plasma-beam discharge with magnet field
Dobrovol`s`kii, A.M.; Evsyukov, A.N.; Goncharov, A.A.; Protsenko, I.M.
We present the results of investigations of the floating potential compensation of dielectric target in&#13;
selfsustained plasma beam discharge in the magnetic field. We use gridless single-stage plasma accelerators with&#13;
closed electron drift and narrow acceleration zone without of additional electron emitter as plasma beam source.&#13;
When the source of such type works in collimated beam mode, lack of electrons in the ion flow leads to occurrence&#13;
of positive charge on the target and reduces the efficiency of ion treatment. Existence of additional glow discharge in&#13;
beam drift space can influence on target potential. We discuss experimental results of measurement of dielectric&#13;
target potential for different conditions and proposal to solve the problem.; Мы представляем результаты исследований компенсации плавающего потенциала диэлектрической&#13;
мишени в самосогласованном пучково-плазменном разряде в магнитном поле. Мы используем бессеточный&#13;
одноступенчатый плазменный ускоритель с замкнутым дрейфом электронов и узкой зоной ускорения без&#13;
дополнительного эмиттера электронов в качестве источника пучка плазмы. Когда источник такого типа&#13;
работает в режиме коллимированного пучка, недостаток электронов в ионном потоке ведет к возникновению&#13;
положительного заряда на мишени и уменьшает эффективность ионной обработки. Существование&#13;
дополнительного тлеющего разряда в пространстве дрейфа пучка может влиять на потенциал мишени. Мы&#13;
обсуждаем экспериментальные результаты измерения потенциала диэлектрической мишени для различных&#13;
условий и предлагаем решение проблемы.; Ми представляємо результати досліджень компенсації плаваючого потенціалу діелектричної мішені у&#13;
самоузгодженому пучково-плазмовому розряді у магнітному полі. Ми використовуємо безсітковий одно&#13;
ступеневий плазмовий прискорювач з замкнутим дрейфом електронів та вузькою зоною прискорення без&#13;
додаткового емітера електронів як джерело пучка плазми. Коли джерело такого типу працює в режимі&#13;
колимованого пучка, недолік електронів у іонному потоці веде до виникнення позитивного заряду на мішені&#13;
та зменшує ефективність іонної обробки. Існування додаткового жевріючого розряду у просторі дрейфу&#13;
пучка може впливати на потенціал мішені. Ми обговорюємо експериментальні результати вимірювань&#13;
потенціалу діелектричної мішені для різних умов та пропонуємо розв’язок проблеми.
</summary>
<dc:date>2006-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Dependence of magnetron characteristics on the secondary-emission yield of cold cathode</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/81281" rel="alternate"/>
<author>
<name>Avtomonov, N.I.</name>
</author>
<author>
<name>Sosnytskiy, S.V.</name>
</author>
<author>
<name>Vavriv, D.M.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/81281</id>
<updated>2015-05-14T00:02:00Z</updated>
<published>2006-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Dependence of magnetron characteristics on the secondary-emission yield of cold cathode
Avtomonov, N.I.; Sosnytskiy, S.V.; Vavriv, D.M.
Particle simulations of mm-wavelength magnetrons with cold secondary-emission cathodes show that such important&#13;
practical characteristics as the output power, efficiency, and operation current are dependent on secondaryemission&#13;
properties of the cold cathode used in such magnetrons. However, in some cases, the enhancement of the&#13;
magnetron characteristics can be achieved with a relatively low secondary-emission yield of the cold cathode. This&#13;
opens a way for using of pure inexpensive metals for the cathode production. The interplay between the secondaryemission&#13;
yield and the magnetron performance is studied to realize this approach.; Численное моделирование магнетронов мм-длин волн с холодными вторично-эмиссионными катодами показывает, что такие важные практические характеристики как выходная мощность, эффективность, рабочий ток зависят от вторично-эмиссионных свойств холодного катода, используемого в таких магнетронах. Однако, в некоторых случаях усиление магнетронных характеристик может достигаться с относительно низкими коэффициентами вторичной эмиссии холодного катода. Это открывает путь для использования чистых недорогих металлов для изготовления катода. Соотношение между коэффициентом вторичной эмиссии и характеристиками магнетрона исследовано для реализации указанного подхода.; Чисельне моделювання магнетронів мм-довжин хвиль з холодними вторинно-емісійними катодами&#13;
показує, що такі важливі практичні характеристики як вихідна потужність, ефективність, робочий струм&#13;
залежать від вторинно-емісійних властивостей холодного катоду, який використовується у таких&#13;
магнетронах. Але, в деяких випадках підсилення магнетронних характеристик може досягатись з відносно&#13;
низькими коефіцієнтами вторинної емісії холодного катоду. Це відкриває шлях для використання чистих&#13;
некоштовних металів для виготовлення катоду. Співвідношення між коефіцієнтом вторинної емісії та&#13;
характеристиками магнетрону досліджене для реалізації вказаного підходу.
</summary>
<dc:date>2006-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Масс-спектрометр вторичных нейтралей на базе ионного имплантера</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/81280" rel="alternate"/>
<author>
<name>Батурин, В.А.</name>
</author>
<author>
<name>Еремин, С.А.</name>
</author>
<author>
<name>Пустовойтов, С.А.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/81280</id>
<updated>2015-05-14T00:02:13Z</updated>
<published>2006-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Масс-спектрометр вторичных нейтралей на базе ионного имплантера
Батурин, В.А.; Еремин, С.А.; Пустовойтов, С.А.
Предложен вариант масс-спектрометра вторичных нейтралей с электронно-лучевой ионизацией распыленных частиц. Установка смонтирована на базе высокодозного ионного имплантера, формирующего сфокусированный и сепарированный по массам пучок газовых ионов с энергией 20…150 кэВ и током на образце до 50 мкА. Величина индукции электромагнита масс-сепаратора первичных ионов позволяет использовать первичные ионы с M/Z от 1 до 40. В качестве масс-анализатора вторичных частиц использован монопольный масс-спектрометр МХ7304А, обеспечивающий диапазон массовых чисел 1…400 при массовом разрешении на уровне 1М. Порог чувствительности прибора в режиме анализа вторичных нейтралей составляет порядка 10 ppm.; A secondary neutrals mass spectrometer variant with electron-ray ionization of sputtered particles have been proposed.&#13;
An apparatus assembled on base of high-dose implanter which form a focussed and separated on mass beam&#13;
of gas ions with energies 20…150 keV and current at sample about 50 µ A. A magnetic induction value of a massseparator&#13;
electromagnet allow to use initial ions with ratio M/Z from 1 to 40. The monopole mass spectrometer&#13;
MX7304A, that ensure a interval of mass values from 1 to 400 at mass resolution about 1 M, used as a secondary&#13;
particle mass analyser. A apparatus threshold of sensitivity in secondary neutrals analysis is in the range of 10 ppm.; Запропонований варіант мас-спектрометру вторинних нейтралів з електронно-проміневою іонізацією&#13;
розпилених частинок. Установка змонтована на базі високодозного іонного імплантеру, що формує&#13;
сфокусований та сепарований за масами пучок газових іонів з енергією 20…150 кеВ та струмом на зразку до&#13;
50 мкА. Величина індукції електромагніту мас-сепаратора первинних іонів дозволяє використовувати&#13;
первинні іони з M/Z від 1 до 40. У якості мас-аналізатора вторинних частинок використано монопольний&#13;
мас-спектрометр МХ7304А, який забезпечує діапазон масових чисел 1…400 при масовому розрізненні на&#13;
рівні 1 М. Поріг чутливості прибору у режимі аналізу вторинних нейтралів складає порядку 10 ppm.
</summary>
<dc:date>2006-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Источник кластерного пучка внешнего исполнения с лазерным испарением для широкого применения</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/81279" rel="alternate"/>
<author>
<name>Батурин, В.А.</name>
</author>
<author>
<name>Карпенко, А.Ю.</name>
</author>
<author>
<name>Пустовойтов, С.А.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/81279</id>
<updated>2015-05-14T00:02:27Z</updated>
<published>2006-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Источник кластерного пучка внешнего исполнения с лазерным испарением для широкого применения
Батурин, В.А.; Карпенко, А.Ю.; Пустовойтов, С.А.
Описан кластерный источник с лазерным испарением мишени, работающий в импульсном режиме. Отличительной особенностью источника является его внешнее исполнение, что упрощает юстировку лазера и даёт возможность использовать источник для применения в различных приложениях. В составе источника в качестве импульсного газового затвора используется электромагнитный клапан, работающий на основе ударно-бойкового механизма и позволяющий получать короткие газовые импульсы длительностью ≥50мкс. Возможна генерация кластеров различных веществ, а при использовании вместо инертного несущего газа – реактивного, образование новых молекул, таких, например, как ZnO, TiNx и TiO2 и осаждение тонкопленочных покрытий с их использованием. Приведены некоторые первые результаты экспериментальных работ с использованием этого источника.; A claster beam source with a target laser evaporation which operate in a pulsed regime have been described. A&#13;
source different peculiarity is its external production that simplyfies a laser alignment and gives a possibility of a&#13;
source usage for different applications. In source structure a electromagnetic valve, which operates on base of an impact&#13;
mechanism and allows to obtain the short gas pulses with duration ≥ 50 µ s , is used as a gas shut. The different&#13;
matter claster generation is possible. At usage reactive gas instead of inertness buffer gas we can obtain the such&#13;
new molecules as, for example, ZnO, TiNx and TiO2 or/and the thin-film coatings with their usage. The some prelimenary&#13;
results of the experimental works with usage of this source have been presented.; Описане кластерне джерело з лазерним випарюванням мішені, що працює в імпульсному режимі. Відмінною особливістю джерела є його зовнішнє виконання, що спрощує юстировку лазера та дає можливість застосовувати джерело для використання в різних застосуваннях. В складі джерела як імпульсний газовий затвор використовується електромагнітний клапан, що працює на основі ударно- бойкового механізму та дозволяє отримувати короткі газові імпульси тривалістю ≥ 50 мкс. Можлива генерація кластерів різноманітних речовин, а при застосуванні замість інертного буферного газу – реактивного, утворення нових молекул, таких, наприклад, як ZnO, TiNx і TiO2 та осадження тонкоплівчатих покриттів з їх використанням. Наведені деякі перші результати експериментальних робіт з використанням цього джерела.
</summary>
<dc:date>2006-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
