<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Вопросы атомной науки и техники, 2004, № 2</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/75046" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/75046</id>
<updated>2026-04-22T10:05:44Z</updated>
<dc:date>2026-04-22T10:05:44Z</dc:date>
<entry>
<title>Linear accelerators for radiation sterilization developed in NPK LUTS NIIEFA</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79400" rel="alternate"/>
<author>
<name>Vorogushin, M.F.</name>
</author>
<author>
<name>Gavrish, Yu.N.</name>
</author>
<author>
<name>Demsky, M.I.</name>
</author>
<author>
<name>Maksimov, V.M.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79400</id>
<updated>2015-04-01T00:02:44Z</updated>
<published>2004-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Linear accelerators for radiation sterilization developed in NPK LUTS NIIEFA
Vorogushin, M.F.; Gavrish, Yu.N.; Demsky, M.I.; Maksimov, V.M.
NPK LUTS NIIEFA has been developing linear accelerators for industrial applications during about 30 years.&#13;
More than 150 linear accelerators for different applications have been manufactured by this company and installed&#13;
in different regions of Russia and abroad: in Poland, Hungary, Germany, France, China and India. The linear accelerators for radiation sterilization developed in NPK LUTS NIIEFA are reviewed.; На протязі 30 років у НПК ЛПЦ НДІЕФА розробляються лінійні прискорювачі промислового&#13;
призначення. За цей час були виготовлені і встановлені в різних областях Росії і за кордоном: у Польщі,&#13;
Угорщині, Німеччині, Франції, Китаї й Індії більш 150 лінійних прискорювачів. У роботі приведений огляд&#13;
основних характеристик цих прискорювачів.; В течение 30 лет в НПК ЛУЦ НИИЭФА разрабатываются линейные ускорители промышленного назначения. За это время были изготовлены и установлены в различных областях России и за границей: в Польше,&#13;
Венгрии, Германии, Франции, Китае и Индии более 150 линейных ускорителей. В работе приведен обзор&#13;
основных характеристик этих ускорителей.
</summary>
<dc:date>2004-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Development of a pulsed bremsstrahlung source on a base of a nanosecond and microsecond REB accelerators</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79399" rel="alternate"/>
<author>
<name>Batrakov, A.B.</name>
</author>
<author>
<name>Egorov, A.M.</name>
</author>
<author>
<name>Gaponenko, N.I.</name>
</author>
<author>
<name>Glushko, E.G.</name>
</author>
<author>
<name>Lonin, Yu.F.</name>
</author>
<author>
<name>Rudnev, N.I.</name>
</author>
<author>
<name>Sereda, B.V.</name>
</author>
<author>
<name>Neklyudov, I.M.</name>
</author>
<author>
<name>Parkhomenko, A.A.</name>
</author>
<author>
<name>Grivo, A.G.</name>
</author>
<author>
<name>Mazilov, A.V.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79399</id>
<updated>2015-04-01T00:02:43Z</updated>
<published>2004-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Development of a pulsed bremsstrahlung source on a base of a nanosecond and microsecond REB accelerators
Batrakov, A.B.; Egorov, A.M.; Gaponenko, N.I.; Glushko, E.G.; Lonin, Yu.F.; Rudnev, N.I.; Sereda, B.V.; Neklyudov, I.M.; Parkhomenko, A.A.; Grivo, A.G.; Mazilov, A.V.
In the paper the preliminary results on measuring parameters of a pulsed bremsstrahlung source developed for&#13;
investigation of physical-mechanical properties of reactor materials are given. Generation of γ-radiation with&#13;
parameters γ ∼ 0.4...1.0 MeV was carried out at microsecond and nanosecond high-current REB accelerators. The&#13;
absolute values of an absorbed dose are determined for both nanosecond and microsecond sources of γ-radiation.; Приведено попередні результати по вимірюванню параметрів імпульсного джерела гальмованого&#13;
 випромінювання, якій створюється для дослідження фізико-механічних властивостей матеріалів&#13;
 реакторобудівництва. Генерація НЖР-випромінювання з параметрами 0,4&lt;γ&lt;1,0 МеВ здійснювалась&#13;
 мікросекундному і наносекундному сильнострумових прискорювачах РЕП. Визначені абсолютні значення&#13;
 дози поглинання, як для наносекундного, так і мікросекундного джерел γ-випромінювання.; Приведены предварительные результаты по измерениям параметров импульсного источника тормозного&#13;
 излучения, создаваемого для исследования физико-механических свойств материалов реакторостроения. Генерация СЖР излучения с параметрами 0,4&lt;γ&lt;1,0 МэВ осуществлялась на микросекундном и наносекундном сильноточных ускорителях РЭП. Определены абсолютные значения поглощенной дозы, как для наносекундного так и микросекундного источников γ-излучения.
</summary>
<dc:date>2004-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Simulation of the thermal mechanism in semiconductors under action of pulsed electromagnetic field</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79398" rel="alternate"/>
<author>
<name>Chumakov, V.I.</name>
</author>
<author>
<name>Slichenko, N.I.</name>
</author>
<author>
<name>Stolarhuk, A.V.</name>
</author>
<author>
<name>Egorov, A.M.</name>
</author>
<author>
<name>Lonin, Yu.F.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79398</id>
<updated>2015-04-01T00:02:41Z</updated>
<published>2004-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Simulation of the thermal mechanism in semiconductors under action of pulsed electromagnetic field
Chumakov, V.I.; Slichenko, N.I.; Stolarhuk, A.V.; Egorov, A.M.; Lonin, Yu.F.
The paper presents a model taking into account the time character of heat localization and distribution in semiconductor devices unlike the classical Wunsch-Bell linear model describing the thermal mechanism of EM-radiation&#13;
action on REA. The classification of action levels is given. The nonlinear model permitting to determine the time&#13;
boundary of heat propagation in the semiconductor device is presented. In the time range t&gt;tcr a uniform volumetric&#13;
heating of the object takes place, and for t&lt;tcr there is a heat localization in the range of energy release due to the lag&#13;
of the heat dissipation process behind the energy input process. Taking this into account one determines the energy&#13;
leading to irreversible results of action. The model allows one to determine the feeblest aspects of REA.; В роботі, на відміну від класичної лінійної моделі Вунча-Белла, яка описує тепловий механізм впливу&#13;
ЕМ-випромінювання на РЕА, пропонується модель, що враховує часовий характер локалізації та&#13;
розповсюдження тепла в напівпровідникових пристроях. Дається класифікація рівнів впливу. Приводиться&#13;
нелінійна модель, яка дозволяє враховувати часову межу розподілення тепла в напівпровідникових&#13;
пристроях. В масштабі часу t&gt;tкр має місце однорідний об’ємний розігрів об’єкту, а при t&lt;tкр має місце&#13;
локалізація тепла внаслідок запізнення процесу тепловідводу від процесу енерговводу в області&#13;
енерговиділення. Виходячи з цього визначається енергія, що приводить до незворотних наслідків дії.&#13;
Модель дозволяє визначити найбільш слабкі місця РЕА і дозволяє спростити експериментальні&#13;
випробування елементної бази РЕА в цілому.; В работе, в отличие от классической линейной модели Вунча-Белла, описывающей тепловой механизм&#13;
влияния ЭМ-излучения на РЭА, предлагается модель, учитывающая временной характер локализации и распространения тепла в полупроводниковых приборах. Дается классификация уровней воздействия. Приводится нелинейная модель, которая позволяет определить временную границу распространения тепла в полупроводниковом приборе. В диапазоне времен t&gt;tкр имеет место однородный объемный разогрев объекта, а&#13;
при t&lt;tкр происходит локализация тепла в области энерговыделения вследствие запаздывания процесса теплоотвода от процесса энерговвода. Исходя из этого, определяется энергия, приводящая к необратимым результатам воздействия.&#13;
Модель позволяет определить наиболее слабые места РЭА и позволяет упростить экспериментальные испытания элементной базы и РЭА в целом.
</summary>
<dc:date>2004-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Thin-film termoacoustic detector for a registration of microwave pulses of nanosecond duration</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79397" rel="alternate"/>
<author>
<name>Andreev, V.</name>
</author>
<author>
<name>Vdovin, V.</name>
</author>
<author>
<name>Voronov, P.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/79397</id>
<updated>2015-04-01T00:02:36Z</updated>
<published>2004-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Thin-film termoacoustic detector for a registration of microwave pulses of nanosecond duration
Andreev, V.; Vdovin, V.; Voronov, P.
A process of the thermoacoustic generation inside thin metallic films deposited on the glass substrate was studied.&#13;
The measurements performed at 8-mm wavelength have showed that an absorption coefficient reaches its maximum in&#13;
the 2...3-nm aluminum films. The process of sound excitation was studied in a sandwich-type system consisting of&#13;
glass – aluminum film – water. It was shown that an efficacy of a themoacoustic excitation for the metallic films of&#13;
several tens of angstroms is solely defined by the thermophysical parameters of liquid adjoining to the film surface.; Досліджено процес термоакустичної генерації в тонких металевих плівках, нанесених на кварцову&#13;
підкладку. Виміру, проведені на довжині хвилі 8 мм, показали, що коефіцієнт поглинання має максимум при&#13;
товщині алюмінієвої плівки 22...25 ангстрем. Поглинання в максимумі склало 34 і 49% при падінні хвилі&#13;
відповідно з боку плівки і кварцової підкладки. Явища, що спостерігаються у тонких металевих плівках,&#13;
теоретично пояснені з позицій аномального скин-ефекту. Проведено аналіз генерації звуку в шаруватій&#13;
системі кварц - алюмінієва плівка – вода. Показано, що при товщинах металевої плівки в кілька десятків&#13;
ангстрем ефективність термоакустичної генерації визначається теплофізичними параметрами рідини, що&#13;
граничить із плівкою.; Исследован процесс термоакустической генерации в тонких металлических пленках, нанесенных на&#13;
кварцевую подложку. Измерения, проведенные на длине волны 8 мм, показали, что коэффициент&#13;
поглощения имеет максимум при толщине алюминиевой пленки 22...25 ангстрем. Поглощение в максимуме&#13;
составило 34 и 49% при падении волны соответственно со стороны пленки и кварцевой подложки.&#13;
Наблюдаемые явления в тонких металлических пленках теоретически объяснены с позиций аномального&#13;
скин-эффекта. Проведен анализ генерации звука в слоистой системе кварц - алюминиевая пленка – вода.&#13;
Показано, что при толщинах металлической пленки в несколько десятков ангстрем эффективность&#13;
термоакустической генерации определяется теплофизическими параметрами граничащей с пленкой&#13;
жидкости.
</summary>
<dc:date>2004-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
