<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001, № 1</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70814" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70814</id>
<updated>2026-04-07T09:45:34Z</updated>
<dc:date>2026-04-07T09:45:34Z</dc:date>
<entry>
<title>Международная выставка "Минский салон оборонной промышленности-2001"</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70832" rel="alternate"/>
<author>
<name/>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70832</id>
<updated>2014-11-16T01:02:03Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Международная выставка "Минский салон оборонной промышленности-2001"
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Международный форум по термоэлектричеству</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70831" rel="alternate"/>
<author>
<name>Моисеев, В.М.</name>
</author>
<author>
<name>Вайнер, А.Л.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70831</id>
<updated>2014-11-16T01:01:43Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Международный форум по термоэлектричеству
Моисеев, В.М.; Вайнер, А.Л.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70830" rel="alternate"/>
<author>
<name>Стерхова, А.В.</name>
</author>
<author>
<name>Ушаков, П.А.</name>
</author>
<author>
<name>Жарков, П.Н.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70830</id>
<updated>2014-11-16T01:01:37Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок
Стерхова, А.В.; Ушаков, П.А.; Жарков, П.Н.
Применение современных средств компьютерной обработки изображения позволило создать физическую структурную и кластерную модели толстой серебропалладиевой резистивной пленки с учетом как топологических, так и метрических характеристик. Использование Оже-метода сделало возможным идентифицировать характерные участки микроструктуры толстопленочного резистора (ТПР) по элементному составу с высокой степенью локальности и достоверности. Впервые выявлен бимодальный характер распределения длины проводящих цепочек и длины макросвязей между гранулами проводящей фазы, полученной по кластерной модели, что необходимо для оценки ширины потенциального барьера при проявлении тунельно-барьерного механизма и расстояния между локализованными состояниями для термоактивационного механизма электропроводности ТПР.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Оптоэлектронный люминесцентный газоанализатор</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70829" rel="alternate"/>
<author>
<name>Плавинский, Е.Б.</name>
</author>
<author>
<name>Копытчук, Н.Б.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70829</id>
<updated>2014-11-16T01:02:05Z</updated>
<published>2001-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Оптоэлектронный люминесцентный газоанализатор
Плавинский, Е.Б.; Копытчук, Н.Б.
Разработан оптоэлектронный газоанализатор кислорода, в котором используется люминесцентный метод. В приборе применены твердотельные источники и приемники излучений, а чувствительный элемент выполнен на основе полимерной матрицы с внедренным в нее люминесцентным металлоорганическим комплексом.Диапазон измерений концентрации кислорода 0—25%, погрешность не более 1%.
</summary>
<dc:date>2001-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
