<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002, № 4-5</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70731" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70731</id>
<updated>2026-04-16T18:35:07Z</updated>
<dc:date>2026-04-16T18:35:07Z</dc:date>
<entry>
<title>Физико-технические параметры монокристаллов для светозвуко-проводов акустооптических устройств</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70795" rel="alternate"/>
<author>
<name>Данилов, В.В.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70795</id>
<updated>2014-11-14T01:01:44Z</updated>
<published>2002-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Физико-технические параметры монокристаллов для светозвуко-проводов акустооптических устройств
Данилов, В.В.
Представлены результаты исследований физико-технических параметров монокристаллов бромид-йодида (КРС-5) и бромид-хлорида (КРС-6) таллия, а также монокристаллов каломели (Hg₂Cl₂), предлагаемых для использования при создании акустооптических устройств.
</summary>
<dc:date>2002-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Степенная связь параметров композиционного материала и его компонентов</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70794" rel="alternate"/>
<author>
<name>Дмитриев, М.В.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70794</id>
<updated>2014-11-14T01:01:35Z</updated>
<published>2002-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Степенная связь параметров композиционного материала и его компонентов
Дмитриев, М.В.
Установлена степенная зависимость диэлектрических свойств композита от параметров компонентов, подтвержденная экспериментами на стеклокерамических материалах и логарифмическим законом смешивания компонентов. Показано, что показатель степени при диэлектрических параметрах в предложенной формуле не должен превышать граничное значение, определяемое величиной параметра композита.
</summary>
<dc:date>2002-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Использование керамики на основе твердых растворов (Ni, Co, Mn, Cu)₃O₄для толстопленочных терморезисторов</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70793" rel="alternate"/>
<author>
<name>Шпотюк, О.И.</name>
</author>
<author>
<name>Гадзаман, И.В.</name>
</author>
<author>
<name>Охримович, Р.В.</name>
</author>
<author>
<name>Вакив, Н.М.</name>
</author>
<author>
<name>Осечкин, С.И.</name>
</author>
<author>
<name>Цмоць, В.М.</name>
</author>
<author>
<name>Брунец, И.М.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70793</id>
<updated>2014-11-14T01:01:42Z</updated>
<published>2002-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Использование керамики на основе твердых растворов (Ni, Co, Mn, Cu)₃O₄для толстопленочных терморезисторов
Шпотюк, О.И.; Гадзаман, И.В.; Охримович, Р.В.; Вакив, Н.М.; Осечкин, С.И.; Цмоць, В.М.; Брунец, И.М.
На примере Coобогащенного состава Cu₀,₁Ni₀,₁Mn₁,₂Co₁,₆O₄ показана возможность использования полупроводниковой шпинельной керамики системы NiMn₂O₄-CuMn₂O₄-MnCo₂O₄ для получения высокостабильных толстопленочных терморезисторов с высоким значением тепловой постоянной. Отработан технологический процесс получения толстых плёнок, изучен их фазовый состав, электрические свойства и стабильность. Полученные пленки характеризуются хорошей морфологией структуры и высокой плотностью. Исследовано влияние толщины слоя на стабильность электрических параметров.
</summary>
<dc:date>2002-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Методы уменьшения температурной погрешности датчиков давления</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70792" rel="alternate"/>
<author>
<name>Васильев, В.А.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/70792</id>
<updated>2014-11-14T01:01:33Z</updated>
<published>2002-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Методы уменьшения температурной погрешности датчиков давления
Васильев, В.А.
Проведен анализ температурных погрешностей датчиков давления, выявлена физическая природа их возникновения. Выработаны рекомендации по конструированию датчиков давления с уменьшенной температурной погрешностью. Классифицированы и рассмотрены методы уменьшения температурных погрешностей, приведены примеры реализации методов в конструкциях датчиков давления.
</summary>
<dc:date>2002-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
